[发明专利]一种测量平板光学元件折射率的方法有效
| 申请号： | 202310013113.4 | 申请日： | 2023-01-05 |
| 公开（公告）号： | CN116183175B | 公开（公告）日： | 2023-08-04 |
| 发明（设计）人： | 王军;孙文卿;胡亦有;沈艺岚 | 申请（专利权）人： | 苏州科技大学 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02;G01N21/45 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 215009 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种测量平板光学元件折射率的装置及方法。激光垂直入射到上表面涂敷粉末颗粒的平板玻璃，上表面形成的各个方向的散射光和平板玻璃下表面的反射光形成等倾干涉，通过分析干涉条纹即可实现折射率的测量。该装置以激光器作为光源，直接入射至被测元件即可形成明显的干涉图案，不需要复杂、精密的光路调节，操作简单；该方法通过分析不同级次圆环状干涉条纹的半径，结合光路的距离参数，即可实现平板光学元件折射率的测量，解决了大多数测量折射率方法需要将光学元件加工成三棱镜的不足。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测量 平板 光学 元件 折射率 方法 | ||
【主权项】：
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