[发明专利]电路的验证方法、装置、设备及存储介质在审
申请号: | 202310006138.1 | 申请日: | 2023-01-04 |
公开(公告)号: | CN115906725A | 公开(公告)日: | 2023-04-04 |
发明(设计)人: | 张雪亮 | 申请(专利权)人: | 长鑫存储技术有限公司 |
主分类号: | G06F30/33 | 分类号: | G06F30/33;G06F30/398 |
代理公司: | 北京名华博信知识产权代理有限公司 11453 | 代理人: | 鲁盛楠 |
地址: | 230601 安徽省合肥市*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | 本公开提供一种电路的验证方法、装置、设备及存储介质。电路的验证方法包括:获取待测电路中端接电路模块的状态验证文件;状态验证文件包括端接电路模块的待检查信号的标准输出数据;获取待测电路中端接电路模块的仿真输出文件;仿真输出文件包括端接电路模块的待检查信号的实际输出波形;获取待测电路中端接电路模块的映射文件;映射文件包括状态验证文件与仿真输出文件中待检查信号的映射关系;根据映射文件,对比状态验证文件和仿真输出文件,检查端接电路模块的待检查信号的状态。在本公开中,根据映射文件将状态验证文件和仿真输出文件进行对比,能够检查端接电路模块的待检查信号的状态,自动地验证端接电路模块的状态以提高端接电路模块仿真验证的效率。 | ||
搜索关键词: | 电路 验证 方法 装置 设备 存储 介质 | ||
【主权项】:
暂无信息
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