[发明专利]使用CTMU的增强阻抗测量在审
| 申请号： | 202280011377.X | 申请日： | 2022-06-21 |
| 公开（公告）号： | CN116745582A | 公开（公告）日： | 2023-09-12 |
| 发明（设计）人： | B·博洛坎;E·黑尔;P·理查兹 | 申请（专利权）人： | 微芯片技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G01D5/00 | 分类号： | G01D5/00 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人： | 邵月星 |
| 地址： | 美国亚*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 一种用于测量未知阻抗的方法和装置。该装置包括第一输入，该第一输入用于接收由传感器电路的第一部分生成的第一信号，该第一部分包括未知阻抗和第一已知电阻，该未知阻抗基于待由传感器电路测量的现象而变化。该装置还包括第二输入，该第二输入用于接收由传感器电路的第二部分生成的第二信号，该传感器电路的第二部分包括已知阻抗和第二已知电阻。并且该装置包括控制逻辑部件，该控制逻辑部件用于基于在第一输入和第二输入中的每一者达到参考电压的时间差来确定传感器电路的测量结果。 | ||
| 搜索关键词： | 使用 ctmu 增强 阻抗 测量 | ||
【主权项】：
暂无信息
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