[实用新型]一种芯片正反面检测设备有效

专利信息
申请号: 202223607635.7 申请日: 2022-12-28
公开(公告)号: CN219104761U 公开(公告)日: 2023-05-30
发明(设计)人: 张正辉;何雪峰;唐博识;陈超科;陈春任 申请(专利权)人: 深圳市智立方自动化设备股份有限公司
主分类号: G01N21/89 分类号: G01N21/89;G01N21/01
代理公司: 深圳市国亨知识产权代理事务所(普通合伙) 44733 代理人: 李夏宏
地址: 518000 广东省深圳市*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 实用新型涉及芯片检测技术领域,具体为一种芯片正反面检测设备,包括安装在机架上的机罩,所述机罩的顶部设置有空气洁净组件,所述机架的一侧设置有自动升降门,所述自动升降门的表面通过螺栓安装有用于感应所述自动升降门处障碍物的安全光栅,所述机罩的内部设置有双面检测平台,所述双面检测平台的表面滑动连接有旋转放置台,正面检测相机和背面检测相机分别设置于所述旋转放置台上下位置处。该芯片正反面检测设备,通过采用正面检测相机和背面检测相机的双面检测平台,来将芯片正反面检测放置在同一个工位上进行检测,有效减少了该设备整体的尺寸,使该装置的占地面积小,降低了成本,同时还提高了对芯片的检测效率。
搜索关键词: 一种 芯片 正反面 检测 设备
【主权项】:
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