[实用新型]一种V型探针及其搭载的测试治具有效
| 申请号： | 202222901217.2 | 申请日： | 2022-11-01 |
| 公开（公告）号： | CN219302596U | 公开（公告）日： | 2023-07-04 |
| 发明（设计）人： | 彭惠华;杨太洲 | 申请（专利权）人： | 苏州智思普电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R1/073;G01R1/04;G01R1/02 |
| 代理公司： | 苏州新知行知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 32414 | 代理人： | 郑丽玲 |
| 地址： | 215000 江苏省苏州市苏州工*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种V型探针及其搭载的测试治具，V型探针分为三段，包括从一端向另一端依次同心设置的柱塞顶部、柱塞中部和柱塞底部，柱塞顶部外周两侧沿轴向纵切出两个对称的侧平面，柱塞顶部的端面上设有V型槽，V型槽的槽底直线与两个侧平面平行，V型槽的两个槽面对称设置，两个槽面之间夹角为60度，槽面与侧平面在端面上相交；三段的直径依次为柱塞中部＞柱塞顶部＞柱塞底部，柱塞中部内部安装有弹簧，柱塞底部与柱塞中部之间设有过渡倒角，柱塞底部为圆柱形，柱塞底部的端面为圆锥型；本实用新型V型探针不仅能提高与芯片引脚搭接的有效接触面积，而且能限定芯片引脚的接触位置，提高半导体测试的接触稳定性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 探针 及其 搭载 测试 | ||
【主权项】：
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