[实用新型]一种调试与校准设备平台高度的治具有效

专利信息
申请号: 202222871362.0 申请日: 2022-10-28
公开(公告)号: CN218724005U 公开(公告)日: 2023-03-24
发明(设计)人: 肖鹏;杨宗其 申请(专利权)人: 东莞高伟光学电子有限公司
主分类号: G01B21/02 分类号: G01B21/02
代理公司: 广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205 代理人: 聂志伟
地址: 523427 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 实用新型用于设备的调试与校准领域,特别涉及一种调试与校准设备平台高度的治具,包括外壳,内部安装数显高度计,数显高度计的数显屏在外壳上露出;底座,可拆卸安装在外壳底部;夹持部件,安装在外壳内部;套筒,穿设在夹持部件内部;调节件,连接夹持部件;探针,连接套筒和数显高度计。按压探针使得探针隐藏至外壳内部后,转动调节件使得夹持部件将套筒夹紧,然后转动调节件使得夹持部件松开套筒,探针在数显高度计的弹力下会恢复初始状态,将治具垂直放置在设备内部下平台,设备的上平台竖直向下移动,当上平台移动到一定的位置,数显高度计的读数与我们设置的参数一致,这时候设备已经调试完成,此装置可做到0.010mm的高精度量测误差。
搜索关键词: 一种 调试 校准 设备 平台 高度
【主权项】:
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