[实用新型]一种调试与校准设备平台高度的治具有效

专利信息
申请号: 202222871362.0 申请日: 2022-10-28
公开(公告)号: CN218724005U 公开(公告)日: 2023-03-24
发明(设计)人: 肖鹏;杨宗其 申请(专利权)人: 东莞高伟光学电子有限公司
主分类号: G01B21/02 分类号: G01B21/02
代理公司: 广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205 代理人: 聂志伟
地址: 523427 广东*** 国省代码: 广东;44
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 调试 校准 设备 平台 高度
【权利要求书】:

1.一种调试与校准设备平台高度的治具,其特征在于:包括

外壳,所述外壳内部安装数显高度计,所述数显高度计的数显屏在所述外壳上露出;

底座,所述底座可拆卸安装在所述外壳底部;

夹持部件,所述夹持部件安装在所述外壳内部;

套筒,所述套筒穿设在所述夹持部件内部,所述套筒能够在所述外壳中活动;

调节件,所述调节件连接所述夹持部件,所述调节件用于控制所述夹持部件夹紧或松开所述套筒;

探针,所述探针连接所述套筒和数显高度计。

2.根据权利要求1所述的调试与校准设备平台高度的治具,其特征在于:所述外壳的顶部安装顶盖,所述顶盖上设有通孔,所述探针穿设在所述通孔中并能够在所述通孔中活动。

3.根据权利要求1所述的调试与校准设备平台高度的治具,其特征在于:所述外壳包括第一侧盖和第二侧盖,所述第一侧盖与所述第二侧盖可拆卸连接。

4.根据权利要求3所述的调试与校准设备平台高度的治具,其特征在于:所述第一侧盖内侧设有配合数显高度计的空腔,所述空腔在所述第一侧盖的一侧形成开口,所述第二侧盖内部设有配合数显高度计的盲孔。

5.根据权利要求3所述的调试与校准设备平台高度的治具,其特征在于:所述第一侧盖内部设有第一装配槽,所述第二侧盖内部设有第二装配槽,所述夹持部件装配在所述第一装配槽和所述第二装配槽中固定。

6.根据权利要求5所述的调试与校准设备平台高度的治具,其特征在于:所述第一侧盖内侧设有第一半圆柱槽,所述第一半圆柱槽贯穿所述第一装配槽,所述第二侧盖内侧设有第二半圆柱槽,所述第二半圆柱槽贯穿所述第二装配槽,所述套筒滑动装配在所述第一半圆柱槽和所述第二半圆柱槽中,所述第一半圆柱槽和所述第二半圆柱槽的长度均长于所述套筒的长度。

7.根据权利要求3所述的调试与校准设备平台高度的治具,其特征在于:所述第一侧盖上设有调节孔,所述调节件穿设在所述调节孔中并与所述夹持部件的活动端螺纹连接。

8.根据权利要求1所述的调试与校准设备平台高度的治具,其特征在于:所述夹持部件包括相互间隔布置的第一夹块和第二夹块,所述第一夹块和所述第二夹块的相对侧均设有配合所述套筒的通道,所述第一夹块的一端与所述第二夹块的一端连接,所述第一夹块的另一端与所述第二夹块的另一端相互间隔,所述调节件用于连接在所述第一夹块与所述第二夹块相互间隔的一端。

9.根据权利要求3所述的调试与校准设备平台高度的治具,其特征在于:所述第一侧盖具有第一销钉孔,所述第二侧盖具有第二销钉孔,所述第一销钉孔和所述第二销钉孔中穿设销钉。

10.根据权利要求1所述的调试与校准设备平台高度的治具,其特征在于:所述探针与所述套筒螺纹连接,所述套筒与所述数显高度计螺纹连接。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于东莞高伟光学电子有限公司,未经东莞高伟光学电子有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202222871362.0/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top