[实用新型]一种调试与校准设备平台高度的治具有效

专利信息
申请号: 202222871362.0 申请日: 2022-10-28
公开(公告)号: CN218724005U 公开(公告)日: 2023-03-24
发明(设计)人: 肖鹏;杨宗其 申请(专利权)人: 东莞高伟光学电子有限公司
主分类号: G01B21/02 分类号: G01B21/02
代理公司: 广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205 代理人: 聂志伟
地址: 523427 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 调试 校准 设备 平台 高度
【说明书】:

实用新型用于设备的调试与校准领域,特别涉及一种调试与校准设备平台高度的治具,包括外壳,内部安装数显高度计,数显高度计的数显屏在外壳上露出;底座,可拆卸安装在外壳底部;夹持部件,安装在外壳内部;套筒,穿设在夹持部件内部;调节件,连接夹持部件;探针,连接套筒和数显高度计。按压探针使得探针隐藏至外壳内部后,转动调节件使得夹持部件将套筒夹紧,然后转动调节件使得夹持部件松开套筒,探针在数显高度计的弹力下会恢复初始状态,将治具垂直放置在设备内部下平台,设备的上平台竖直向下移动,当上平台移动到一定的位置,数显高度计的读数与我们设置的参数一致,这时候设备已经调试完成,此装置可做到0.010mm的高精度量测误差。

技术领域

本实用新型用于设备的调试与校准领域,特别是涉及一种调试与校准设备平台高度的治具。

背景技术

市面上的高度计都属于标准件,而测试的设备属于非标设备,在设备的调试以及日常校准中,往往无法匹配适合的高度测试仪器,其次,模组行业测试设备物距量测目前均使用激光测距仪,其精度的规格在0.1mm,但市面还未有小数点后两位精度的激光测距仪器使用,因此目前市面是没有满足高精度测量要求的治具。

实用新型内容

为解决上述技术问题中的至少之一,本实用新型提供一种调试与校准设备平台高度的治具,所采用的技术方案如下。

一种调试与校准设备平台高度的治具,包括

外壳,所述外壳内部安装数显高度计,所述数显高度计的数显屏在所述外壳上露出;

底座,所述底座可拆卸安装在所述外壳底部;

夹持部件,所述夹持部件安装在所述外壳内部;

套筒,所述套筒穿设在所述夹持部件内部,所述套筒能够在所述外壳中活动;

调节件,所述调节件连接所述夹持部件,所述调节件用于控制所述夹持部件夹紧或松开所述套筒;

探针,所述探针连接所述套筒和数显高度计。

本实用新型实施例的调试与校准设备平台高度的治具至少具有如下有益效果:使用过程中,首先调试设备,转动调节件使得夹持部件松开套筒,按压探针使得探针隐藏至外壳内部后,转动调节件使得夹持部件将套筒夹紧,确保探针固定在外壳内部,数显高度计归零,然后转动调节件使得夹持部件松开套筒,探针在数显高度计的弹力下会恢复至初始状态,同时数显高度计会出现读数,将治具垂直放置在设备内部下平台,设备下平台是固定状态,设备的上平台竖直向下移动,当上平台移动到一定的位置,数显高度计的读数与我们设置的参数一致,上下平台的距离就是我们测试要求高度,这时候设备已经调试完成,这种治具可做到0.010mm的高精度量测误差,提升设备调试精度性和产品测试良率。

根据本实用新型的另一些实施例的调试与校准设备平台高度的治具,所述外壳的顶部安装顶盖,所述顶盖上设有通孔,所述探针穿设在所述通孔中并能够在所述通孔中活动。

根据本实用新型的另一些实施例的调试与校准设备平台高度的治具,所述外壳包括第一侧盖和第二侧盖,所述第一侧盖与所述第二侧盖可拆卸连接。

根据本实用新型的另一些实施例的调试与校准设备平台高度的治具,所述第一侧盖内侧设有配合数显高度计的空腔,所述空腔在所述第一侧盖的一侧形成开口,所述第二侧盖内部设有配合数显高度计的盲孔。

根据本实用新型的另一些实施例的调试与校准设备平台高度的治具,所述第一侧盖内部设有第一装配槽,所述第二侧盖内部设有第二装配槽,所述夹持部件装配在所述第一装配槽和所述第二装配槽中固定。

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