[实用新型]一种X荧光熔样机分析用试样座有效

专利信息
申请号: 202222373733.2 申请日: 2022-09-07
公开(公告)号: CN218412324U 公开(公告)日: 2023-01-31
发明(设计)人: 宫嘉辰;施善林;赵景富;姜超;舒芳霞;范增;尹雪;刘冬梅;刘妍 申请(专利权)人: 沈阳有色金属研究院有限公司
主分类号: G01N23/2204 分类号: G01N23/2204;G01N23/223
代理公司: 沈阳亚泰专利商标代理有限公司 21107 代理人: 许宇来
地址: 110141 辽宁省沈*** 国省代码: 辽宁;21
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摘要: 实用新型公开了一种X荧光熔样机分析用试样座,包括固定座和第二齿轮,所述固定座的内侧开设有放置腔,且所述放置腔的内侧设有升降板,所述升降板的底部连接有第一齿条,且所述第一齿条的一侧连接有第一齿轮。利用设置的齿条、齿轮与皮带之间的结合使用,可以在整个固定座升降的过程中对放置腔内部坩埚的位置进行限位夹持处理,以此来防止坩埚在后续的升降过程中产生晃动,进而导致坩埚内部放置的材料溢出,造成不必要的浪费,当第一齿条下移时会使第一齿轮带动皮带轮随之进行转动,而后皮带轮带动皮带进行移动,在多个皮带轮与皮带的联动作用下会使第二齿条带动一侧连接的限位板进行横移,从而可以利用限位板对坩埚进行限位处理。
搜索关键词: 一种 荧光 样机 分析 试样
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