[实用新型]一种集成电路中可靠性分析的测试结构有效
| 申请号： | 202222135032.5 | 申请日： | 2022-08-12 |
| 公开（公告）号： | CN218037198U | 公开（公告）日： | 2022-12-13 |
| 发明（设计）人： | 张凤林 | 申请（专利权）人： | 成都信息工程大学 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R1/04;F16F15/067 |
| 代理公司： | 上海思真远达专利代理事务所(特殊普通合伙) 31481 | 代理人： | 戚淼 |
| 地址： | 610225 四川省成都*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种集成电路中可靠性分析的测试结构，涉及集成电路技术领域，包括支撑块，支撑块的内壁滑动连接有滑板，支撑块的上表面固定连接有两个相对称的支撑柱，支撑块的上方设置有固定板，两个支撑柱的顶端均与固定板的底面固定连接，固定板的上表面固定连接有伸缩气泵。它能够通过支撑块、支撑柱、固定板、伸缩气泵、升降板、滑板和检测装置本体之间的相互配合可以实现对集成电路可靠性分析的检测，通过升降板、检测装置本体、滑杆、第一伸缩弹簧、第一限位杆、第一滑块、第三伸缩弹簧和弹性钢片之间的相互配合可以实现对集成电路缓冲保护的作用，可以有效的避免集成电路受到损伤，能够有效的避免经济损失。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 集成电路 可靠性分析 测试 结构 | ||
【主权项】：
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