[实用新型]一种集成电路中可靠性分析的测试结构

说明书

本实用新型公开了一种集成电路中可靠性分析的测试结构，涉及集成电路技术领域，包括支撑块，支撑块的内壁滑动连接有滑板，支撑块的上表面固定连接有两个相对称的支撑柱，支撑块的上方设置有固定板，两个支撑柱的顶端均与固定板的底面固定连接，固定板的上表面固定连接有伸缩气泵。它能够通过支撑块、支撑柱、固定板、伸缩气泵、升降板、滑板和检测装置本体之间的相互配合可以实现对集成电路可靠性分析的检测，通过升降板、检测装置本体、滑杆、第一伸缩弹簧、第一限位杆、第一滑块、第三伸缩弹簧和弹性钢片之间的相互配合可以实现对集成电路缓冲保护的作用，可以有效的避免集成电路受到损伤，能够有效的避免经济损失。

技术领域

本实用新型涉及集成电路技术领域，具体是一种集成电路中可靠性分析的测试结构。

背景技术

集成电路是一种微型电子器件或部件，采用一定的工艺，把一个电路中所需的晶体管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起，制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上，然后封装在一个管壳内，成为具有所需电路功能的微型结构；其中所有元件在结构上已组成一个整体，使电子元件向着微小型化、低功耗、智能化和高可靠性方面迈进了一大步。

在对集成电路的可靠性分析的时候需要使用到专业的测试装置进行分析，该装置在使用的时候是把集成电路放置到检测平台上，在下压测试装置进行检测，在下压的时候却把缓冲机构，可能会对集成电路造成损伤。

根据专利号为CN212540620U的专利中公开的一种集成电路中可靠性分析的测试结构，该装置在使用的时候可以对集成电路进行固定，能够增加测试的准确性，但是该装置在使用的时候缺少对集成电路的缓冲保护机构，虽然测试装置的下降速度很慢，但是由于测试装置稳定重量较大，所以产生的冲击力较大，可能会使集成电机受到损伤，能够有效的避免经济损失；为此，我们提供了一种集成电路中可靠性分析的测试结构解决以上问题。

实用新型内容

本实用新型的目的就是为了弥补现有技术的不足，提供了一种集成电路中可靠性分析的测试结构。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种集成电路中可靠性分析的测试结构，包括支撑块，所述支撑块的内壁滑动连接有滑板，所述支撑块的上表面固定连接有两个相对称的支撑柱，所述支撑块的上方设置有固定板，两个所述支撑柱的顶端均与固定板的底面固定连接，所述固定板的上表面固定连接有伸缩气泵，所述伸缩气泵的输出轴端固定连接有升降板，所述升降板的内壁固定连接有第一限位杆，所述第一限位杆的外表面滑动有两个相对称的第一滑块，所述第一限位杆的外表面套设有两个相对称的第三伸缩弹簧，所述升降板的下方设置有检测装置本体，所述检测装置本体的上表面固定连接有弹性钢片，两个所述第一滑块均与弹性钢片固定连接，所述检测装置本体上表面的四个边角处均固定连接有滑杆，四个所述滑杆的顶端均贯穿升降板并与升降板滑动连接，每个所述滑杆的外表面均套设有第一伸缩弹簧。

进一步的，所述第一限位杆的外表面套设有第二伸缩弹簧，两个所述第一滑块均与第二伸缩弹簧固定连接。

进一步的，每个所述滑杆的顶端均固定连接有限位盘，每个所述限位盘的外表面均做钝化处理。

进一步的，所述支撑块底面的四个边角处均固定连接有支撑腿，每个所述支撑腿的底端均固定连接有支撑垫。

进一步的，所述支撑块的内壁开设有两个相对称的滑槽，每个所述滑槽的内壁均固定连接有第二限位杆。

进一步的，每个所述第二限位杆的外表面均滑动连接有第二滑块，两个所述第二滑块均与滑板固定连接。

进一步的，每个所述第二限位杆的外表面均套设有第四伸缩弹簧，两个所述第四伸缩弹簧的顶端分别与两个第二滑块的底面固定连接。

与现有技术相比，该集成电路中可靠性分析的测试结构具备如下有益效果：