[实用新型]芯片管脚耦合电压测试系统有效
| 申请号： | 202220786316.8 | 申请日： | 2022-04-07 |
| 公开（公告）号： | CN216485390U | 公开（公告）日： | 2022-05-10 |
| 发明（设计）人： | 赵东艳;王于波;陈燕宁;钟明琛;李杰伟;符荣杰 | 申请（专利权）人： | 北京芯可鉴科技有限公司;北京智芯微电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R19/00;G01R1/18 |
| 代理公司： | 北京润平知识产权代理有限公司 11283 | 代理人： | 李红 |
| 地址： | 102200 北京市昌平区*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本实用新型实施例提供一种芯片管脚耦合电压测试系统，属于芯片管脚测试领域。所述芯片管脚耦合电压测试系统应用于有界波电场中电路板特定芯片管脚耦合的电压测量，所述芯片管脚耦合电压测试系统包括：有界波模拟器，用于形成有界波电场；测试支架，设置在所述有界波电场中，用于固定被测设备；射频线缆，沿与所述有界波电场的方向正交的方向走线，用于引出所述被测设备的测试信号；测试装置，连接在所述射频线缆的末端，用于接收所述测试信号。本实用新型方案避免了进行芯片管脚电压测试时被耦合电压影响的问题，提高了管脚电压测试准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 管脚 耦合 电压 测试 系统 | ||
【主权项】：
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