[实用新型]芯片管脚耦合电压测试系统

说明书

本实用新型实施例提供一种芯片管脚耦合电压测试系统，属于芯片管脚测试领域。所述芯片管脚耦合电压测试系统应用于有界波电场中电路板特定芯片管脚耦合的电压测量，所述芯片管脚耦合电压测试系统包括：有界波模拟器，用于形成有界波电场；测试支架，设置在所述有界波电场中，用于固定被测设备；射频线缆，沿与所述有界波电场的方向正交的方向走线，用于引出所述被测设备的测试信号；测试装置，连接在所述射频线缆的末端，用于接收所述测试信号。本实用新型方案避免了进行芯片管脚电压测试时被耦合电压影响的问题，提高了管脚电压测试准确性。

技术领域

本实用新型涉及芯片管脚测试领域，具体地涉及一种芯片管脚耦合电压测试系统。

背景技术

为了分析电子和电力设备受外界电磁脉冲作用产生的感应电压，需开展设备内部电路板卡上特定芯片管脚的电压。现有的测量系统一般通过示波器和高阻抗高压探头，进行特定芯片管脚电压的测量。探头的使用和示波器的测试环境，直接影响了最终的测试结果，在现有的测试方法中，主要是在有界波电场中，直接将示波器的探头放置在电场中进行测量，示波器的探头通常是没有进行屏蔽的线缆，在测量的过程中，放置于有界波的较强电场空间中。在这种情况下，探头及其线缆会耦合产生较强的电压，众所周知，管脚电压值本身较小，当受到该耦合电压影响时，势必会对结果造成极大的干扰，这就使得测试结果极度不准确。针对测试系统和设备本身在测量过程中，因其对电场耦合而引入的干扰信号而导致的测试结果不准确、不可信的问题。需要创造一种新的芯片管脚耦合电压测试系统。

实用新型内容

本实用新型实施例的目的是提供一种芯片管脚耦合电压测试系统，该芯片管脚耦合电压测试系统解决了现有测试方法由于电场耦合引入的干扰信号导致测试结果不准确、不可信的问题。

为了实现上述目的，本实用新型实施例提供一种芯片管脚耦合电压测试系统，应用于有界波电场中电路板特定芯片管脚耦合的电压测量，所述芯片管脚耦合电压测试系统包括：有界波模拟器，用于形成有界波电场；测试支架，设置在所述有界波电场中，用于固定被测设备；射频线缆，沿与所述有界波电场的方向正交的方向走线，用于引出所述被测设备的测试信号；测试装置，连接在所述射频线缆的末端，用于接收所述测试信号。

可选的，所述有界波模拟器包括两个有界波模拟装置，两个有界波模拟装置正对布置，用于在二者正对区域内形成有界波电场。

可选的，所述测试支架固定在所述两个有界波模拟装置的正对区域内的中心位置。

可选的，所述测试支架包括多个固定卡槽，用于固定被测设备。

可选的，所述射频线缆通过测试端子与被测设备的对应管脚连接。

可选的，所述射频线缆为同轴线缆。

可选的，所述测试装置包括：测试探头，连接在所述射频线缆的末端，用于接收并转发所述测试信号；示波器，用于显示所述测试信号。

可选的，所述测试探头为高阻抗高压探头。

可选的，所述测试装置还包括：射频屏蔽箱，用于存放所述测试探头和所述示波器。

可选的，所述测试探头和所述示波器通过同轴线转接头通信连接。

通过上述技术方案，本实用新型选择屏蔽性能极佳的同轴线，将特定管脚的电压信号引出有界波电场空间，在有界波电场外的电磁屏蔽箱中进行测量，保证测试结构不收耦合电压影响，使得测试结果可信。提高了管脚电压测试准确性。

本实用新型实施例的其它特征和优点将在随后的具体实施方式部分予以详细说明。

附图说明

附图是用来提供对本实用新型实施例的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与下面的具体实施方式一起用于解释本实用新型实施例，但并不构成对本实用新型实施例的限制。在附图中：