[实用新型]功率半导体器件用老化板装置有效
申请号: | 202220221626.5 | 申请日: | 2022-01-26 |
公开(公告)号: | CN216870726U | 公开(公告)日: | 2022-07-01 |
发明(设计)人: | 姚启明;孙元鹏;张文亮 | 申请(专利权)人: | 山东阅芯电子科技有限公司 |
主分类号: | G01R31/26 | 分类号: | G01R31/26 |
代理公司: | 苏州国诚专利代理有限公司 32293 | 代理人: | 韩凤 |
地址: | 264300 山东*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | 本实用新型涉及一种功率半导体器件用老化板装置。其包括老化板体以及若干设置于老化板体上的测试工位区;还包括器件测试支撑连接体,待测功率半导体器件置于器件测试支撑连接体上时,待测功率半导体器件的器件引出端子插入器件测试支撑连接体上相应的器件端子定位连接孔内,以使得一器件引出端子与位于所插入器件端子定位连接孔内的测试工位测试连接体适配电连接,器件测试支撑连接体与置于所述器件测试支撑连接体上的待测功率半导体器件相互绝缘;在待测功率半导体器件上设置测试散热器。本实用新型能提高待测试功率半导体器件与老化板连接的便捷性与可靠性,提高测试的效率。 | ||
搜索关键词: | 功率 半导体器件 老化 装置 | ||
【主权项】:
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