[实用新型]功率半导体器件用老化板装置

说明书

本实用新型涉及一种功率半导体器件用老化板装置。其包括老化板体以及若干设置于老化板体上的测试工位区；还包括器件测试支撑连接体，待测功率半导体器件置于器件测试支撑连接体上时，待测功率半导体器件的器件引出端子插入器件测试支撑连接体上相应的器件端子定位连接孔内，以使得一器件引出端子与位于所插入器件端子定位连接孔内的测试工位测试连接体适配电连接，器件测试支撑连接体与置于所述器件测试支撑连接体上的待测功率半导体器件相互绝缘；在待测功率半导体器件上设置测试散热器。本实用新型能提高待测试功率半导体器件与老化板连接的便捷性与可靠性，提高测试的效率。

技术领域

本实用新型涉及一种老化板装置，尤其是一种功率半导体器件用老化板装置。

背景技术

在高温反偏/栅偏实验中，待测功率半导体器件需要与测试机进行电气连接，通常在150℃/168hrs的条件下同时测试32-64只功率半导体器件，若逐一把功率半导体器件连接到测试机上，很容易出现误插的情况且会导致测试效率较低，因此，试验时，通常会把功率半导体器件安装在一种耐高温的印制电路板上并与电路板产生电气连接，最后把带着功率半导体器件的电路板连接到测试机中，由于电路板与一只或多只功率半导体器件一起做老化测试，故电路板又称作老化板。

在某些测试机中，测试前先需要把功率半导体器件安装在老化板上，再通过导线完成功率半导体器件与老化板的电气连接，但此方案需要连接大量的导线，效率较低，在安装老化板的过程中会有剐蹭导线的风险。或者，功率半导体器件安装在一种金属的夹具上，再通过弹簧针等方式实现功率半导体器件与老化板的电气连接，但金属夹具有划伤器件的风险，且金属夹具在高电压时受因爬电距离的影响可能会使功率半导体器件短路，难以满足实际测试的要求。

发明内容

本实用新型的目的是克服现有技术中存在的不足，提供一种功率半导体器件用老化板装置，其结构紧凑，能提高待测试功率半导体器件与老化板连接的便捷性与可靠性，提高测试的效率。

按照本实用新型提供的技术方案，所述功率半导体器件用老化板装置，包括老化板体以及若干设置于老化板体上的测试工位区；还包括若干与老化板体上测试工位区适配的器件测试支撑连接体，器件测试支撑连接体与老化板体上的测试工位区呈一一对应，在任一测试工位区内设置若干测试工位测试连接体，测试工位区内的测试工位测试连接体与器件测试支撑连接体上相应的测试连接定位孔正对应，测试工位测试连接体的器件端子连接端能伸入所正对应的测试连接定位孔内；

待测功率半导体器件置于器件测试支撑连接体上时，待测功率半导体器件的器件引出端子插入器件测试支撑连接体上相应的测试连接定位连接孔内，以使得一器件引出端子与位于所插入测试连接定位孔内的测试工位测试连接体适配电连接，器件测试支撑连接体与置于所述器件测试支撑连接体上的待测功率半导体器件相互绝缘；

在待测功率半导体器件上设置测试散热器，通过手拧螺丝体将所述测试散热器以及待测功率半导体器件固定在器件测试支撑连接体上。

所述测试工位测试连接体垂直分布于老化板体上，测试工位测试连接体为弹簧针或夹片针。

所述器件测试支撑连接体上设置用于与待测功率半导体器件适配连接的器件定位连接块，所述器件定位连接块凸设于器件测试支撑连接体上，且在器件定位连接块上设置器件固定孔；

待测功率半导体器件上具有对称分布的器件耳片，且在所述器件耳片上设置贯通所述器件耳片的耳片连接孔，手拧螺丝体依次穿过测试散热器以及耳片连接孔后进入器件固定孔内，以通过手拧螺丝体将所述测试散热器以及待测功率半导体器件固定在器件测试支撑连接体上。

在所述器件测试支撑连接体上设置若干允许待测功率半导体器件上的器件支撑连接定位块嵌置的器件放置定位导向槽，所述器件放置定位导向槽分布于器件定位连接块的两侧；