[发明专利]一种晶圆裂缝检测方法、装置及存储介质有效

专利信息
申请号: 202211713591.8 申请日: 2022-12-30
公开(公告)号: CN115690104B 公开(公告)日: 2023-03-07
发明(设计)人: 郎斯喆;余志强;李杰;孙峰 申请(专利权)人: 合肥图迅电子科技有限公司
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06T5/00;G06T7/136;G06V10/762
代理公司: 安徽知问律师事务所 34134 代理人: 陈赛飞
地址: 230000 安徽省合肥市高新*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 发明公开了一种晶圆裂缝检测方法、装置及存储介质,属于晶圆检测技术领域。针对现有技术中在进行晶圆表面裂缝检测时,由于裂缝结构不连续等问题导致裂缝难以检测,本发明将晶圆表面图像通过滤波器进行卷积,对卷积后的晶圆表面图像二值化处理得到二值图像;将二值图像中所有保留的连通域拟合成线段;判断拟合线段的方向和预先设置的滤波器的方向差异,保留与滤波器方向相近的拟合线段;对保留的拟合线段进行聚类,保存属于同一类的拟合线段的端点坐标;计算每个类别中坐标点的最小外接矩形,通过最小外接矩形的长度和位置信息判断该类别是否为裂缝,从而通过滤波器增强裂缝结构及线段聚类,实现在复杂背景下的晶圆裂缝的检测和提取。
搜索关键词: 一种 裂缝 检测 方法 装置 存储 介质
【主权项】:
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