[发明专利]设备枚举测试方法、装置、测试机及存储介质在审
| 申请号： | 202211702891.6 | 申请日： | 2022-12-29 |
| 公开（公告）号： | CN116244121A | 公开（公告）日： | 2023-06-09 |
| 发明（设计）人： | 吕健;尹迟;雷善历 | 申请（专利权）人： | 深圳市天英联合科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22 |
| 代理公司： | 深圳市恒程创新知识产权代理有限公司 44542 | 代理人： | 鄢紫君 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市南*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种设备枚举测试方法、设备枚举测试装置、测试机及存储介质，属于电子设备技术领域。其中，设备枚举测试方法应用于测试机，所述设备枚举测试方法包括：所述设备枚举测试方法包括以下步骤：获取测试指令，所述测试指令为控制目标接口与所述测试机连接的运行状态的指令；根据所述测试指令控制所述测试机运行，以使所述目标接口达到所述运行状态；检测所述运行状态下待测设备的枚举状态，并输出所述枚举状态的检测结果。本申请实现了提高测试效率以及测试准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 设备 枚举 测试 方法 装置 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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