[发明专利]设备枚举测试方法、装置、测试机及存储介质

权利要求书

1.一种设备枚举测试方法，其特征在于，应用于测试机，所述设备枚举测试方法包括以下步骤：

获取测试指令，所述测试指令为控制目标接口与所述测试机连接的运行状态的指令；

根据所述测试指令控制所述测试机运行，以使所述目标接口达到所述运行状态；

检测所述运行状态下待测设备的枚举状态，并输出所述枚举状态的检测结果。

2.如权利要求1所述的设备枚举测试方法，其特征在于，所述根据所述测试指令控制所述测试机运行，以使所述目标接口达到所述测试指令对应所述运行状态的步骤包括：

当所述测试指令为断电测试指令时，控制所述测试机停止对所述目标接口供电，并控制所述测试机在所述目标接口停止供电达到第一预设时长时对所述目标接口供电，所述运行状态为断电重连接状态；

当所述测试指令为电压升降测试指令时，控制所述测试机调整所述目标接口的电压由第一预设供电电压改变至第二预设供电电压，并控制所述测试机在所述目标接口的电压处在所述第二预设供电电压的时长达到第二预设时长时，调整所述目标接口的电压为所述第一预设供电电压，所述运行状态为电压升降状态；

当所述测试指令为连接切换指令时，控制所述测试机切换所述目标接口的连接信号源，所述运行状态为信号切换状态。

3.如权利要求2所述的设备枚举测试方法，其特征在于，所述控制所述测试机调整所述目标接口的电压由第一预设供电电压改变至第二预设供电电压，并控制所述测试机在所述目标接口的电压处在所述第二预设供电电压的时长达到第二预设时长时，调整所述目标接口的电压为所述第一预设供电电压的步骤之前，还包括：

根据所述待测设备的检测次数确定所述第二预设供电电压，所述第二预设供电电压与所述检测次数呈正相关。

4.如权利要求2所述的设备枚举测试方法，其特征在于，所述控制所述测试机调整所述目标接口的电压由第一预设供电电压改变至第二预设供电电压，并控制所述测试机在所述目标接口的电压处在所述第二预设供电电压的时长达到第二预设时长时，调整所述目标接口的电压为所述第一预设供电电压的步骤包括：

根据电压变化速度控制所述测试机调整所述目标接口的电压由所述第一预设供电电压改变至所述第二预设供电电压；

控制所述测试机在所述目标接口的电压处在所述第二预设供电电压的时长达到所述第二预设时长时，根据所述电压变化速度调整所述目标接口的电压为所述第一预设供电电压；

其中所述电压变化速度与所述第一预设供电电压和所述第二预设供电电压的差值呈正相关。

5.如权利要求1所述的设备枚举测试方法，其特征在于，所述检测所述运行状态下待测设备的枚举状态的步骤之后，还包括：

记录所述待测设备的检测次数，并返回执行根据所述测试指令控制所述测试机运行的步骤，直至满足预设条件；

所述预设条件包括：所述检测次数达到第一预设次数，或，所述枚举状态为枚举异常的次数达到第二预设次数。

6.如权利要求1所述的设备枚举测试方法，其特征在于，所述根据所述测试指令控制所述测试机运行，以使所述目标接口达到所述测试指令对应所述运行状态的步骤之后，还包括：

接收所述目标接口的当前运行状态；

当所述当前运行状态与所述运行状态匹配时，执行检测所述运行状态下待测设备的枚举状态，并输出所述枚举状态的检测结果的步骤；

当所述当前运行状态与所述运行状态不匹配时，停止执行检测所述运行状态下待测设备的枚举状态，并输出所述枚举状态的检测结果的步骤。

7.如权利要求1至6中任一项所述的设备枚举测试方法，其特征在于，所述检测所述运行状态下待测设备的枚举状态的步骤包括：

当在预设时间内检测到待测设备时，确定所述枚举状态为枚举正常；

当在预设时间内未检测到待测设备时，确定所述枚举状态为枚举异常。