[发明专利]设备枚举测试方法、装置、测试机及存储介质

说明书

本发明公开了一种设备枚举测试方法、设备枚举测试装置、测试机及存储介质，属于电子设备技术领域。其中，设备枚举测试方法应用于测试机，所述设备枚举测试方法包括：所述设备枚举测试方法包括以下步骤：获取测试指令，所述测试指令为控制目标接口与所述测试机连接的运行状态的指令；根据所述测试指令控制所述测试机运行，以使所述目标接口达到所述运行状态；检测所述运行状态下待测设备的枚举状态，并输出所述枚举状态的检测结果。本申请实现了提高测试效率以及测试准确性。

技术领域

本发明涉及电子设备领域，尤其涉及设备枚举测试方法、设备枚举测试装置、测试机及存储介质。

背景技术

随着信息技术的发展，大量的设备通过设备相互匹配的接口与主设备连接，需要对待测设备的枚举状态进行测试。目前，通过人工方法控制待测设备与主设备的接口的连接情况形成枚举测试环境，例如：通过插拔测试形成断开重连接的枚举测试环境、通过在待测设备与主设备的接口之间设置滑动变阻器并调整滑动变阻器形成电压波动的测试环境。但是员工通过人工方法进行多次测试后，无法保证测试过程的中的一致性和测试的效率，导致测试效率低以及测试准确性低。

上述内容仅用于辅助理解本发明的技术方案，并不代表承认上述内容是现有技术。

发明内容

本发明的主要目的在于提供一种设备枚举测试方法、装置、测试机及存储介质，旨在提高测试效率以及测试准确性。

为实现上述目的，本发明提供一种设备枚举测试方法，应用于测试机，所述设备枚举测试方法包括以下步骤：

获取测试指令，所述测试指令为控制目标接口与所述测试机连接的运行状态的指令；

根据所述测试指令控制所述测试机运行，以使所述目标接口达到所述运行状态；

检测所述运行状态下待测设备的枚举状态，并输出所述枚举状态的检测结果。

可选地，所述根据所述测试指令控制所述测试机运行，以使所述目标接口达到所述测试指令对应所述运行状态的步骤包括：

当所述测试指令为断电测试指令时，控制所述测试机停止对所述目标接口供电，并控制所述测试机在所述目标接口停止供电达到第一预设时长时对所述目标接口供电，所述运行状态为断电重连接状态；

当所述测试指令为电压升降测试指令时，控制所述测试机调整所述目标接口的电压由第一预设供电电压改变至第二预设供电电压，并控制所述测试机在所述目标接口的电压处在所述第二预设供电电压的时长达到第二预设时长时，调整所述目标接口的电压为所述第一预设供电电压，所述运行状态为电压升降状态；

当所述测试指令为连接切换指令时，控制所述测试机切换所述目标接口的连接信号源，所述运行状态为信号切换状态。

可选地，所述控制所述测试机调整所述目标接口的电压由第一预设供电电压改变至第二预设供电电压，并控制所述测试机在所述目标接口的电压处在所述第二预设供电电压的时长达到第二预设时长时，调整所述目标接口的电压为所述第一预设供电电压的步骤之前，还包括：

根据所述待测设备的检测次数确定所述第二预设供电电压，所述第二预设供电电压与所述检测次数呈正相关。

可选地，所述控制所述测试机调整所述目标接口的电压由第一预设供电电压改变至第二预设供电电压，并控制所述测试机在所述目标接口的电压处在所述第二预设供电电压的时长达到第二预设时长时，调整所述目标接口的电压为所述第一预设供电电压的步骤包括：

根据电压变化速度控制所述测试机调整所述目标接口的电压由所述第一预设供电电压改变至所述第二预设供电电压；

控制所述测试机在所述目标接口的电压处在所述第二预设供电电压的时长达到所述第二预设时长时，根据所述电压变化速度调整所述目标接口的电压为所述第一预设供电电压；