[发明专利]一种模拟类器件单粒子瞬态通用检测系统和方法在审
| 申请号： | 202211689709.8 | 申请日： | 2022-12-27 |
| 公开（公告）号： | CN116223940A | 公开（公告）日： | 2023-06-06 |
| 发明（设计）人： | 魏志超;孙毅;梅博;张洪伟;曹爽;王乾元;莫日根;吕贺;李鹏伟 | 申请（专利权）人： | 中国空间技术研究院 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 中国航天科技专利中心 11009 | 代理人： | 张欢 |
| 地址： | 100194 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开一种模拟类器件单粒子瞬态通用检测系统，包括模拟量输入通道、ADC数据采集电路等；模拟量输入通道对所需采集的模拟信号进行放大滤波调理；ADC数据采集电路通过模拟量输入通道采集模拟信号，将模拟信号转为数字信号发送给FPGA控制器；FPGA控制器接收上位机指令，控制ADC数据采集电路工作，将采集数据发送至上位机；SDRAM存储器用于缓存采集数据；PCI通信接口实现FPGA控制器与上位机的通信，实现FPGA控制器与上位机之间的指令的传递和试验数据的传输；触发电路用于实现模拟信号的电平突变触发，当模拟信号满足所设置的触发条件时，触发FPGA控制器控制SDRAM存储器保存数据触发时和触发之后的数据；试验电路通用子板用于加载被测器件。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 模拟 器件 粒子 瞬态 通用 检测 系统 方法 | ||
【主权项】：
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