[发明专利]一种玉米果穗表面缺陷检测方法及装置在审
| 申请号： | 202211682802.6 | 申请日： | 2022-12-27 |
| 公开（公告）号： | CN115862004A | 公开（公告）日： | 2023-03-28 |
| 发明（设计）人： | 王伟;魏超杰;杨敏莉;郭笑欢;杨英杰;郭树丹;刘杨 | 申请（专利权）人： | 中国农业大学;中国检验检疫科学研究院 |
| 主分类号： | G06V20/68 | 分类号： | G06V20/68;G06V10/94;G06V10/764;G06V10/774;G06V10/82;G06V10/26;G06V20/70;G06N3/0455;G06N3/0464;G06N3/08 |
| 代理公司： | 北京众合诚成知识产权代理有限公司 11246 | 代理人： | 李全旺 |
| 地址： | 100193 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种玉米果穗表面缺陷检测方法及装置。该检测方法包括以下步骤：采集玉米果穗外观信息；生成玉米果穗展开图像；玉米果穗展开图像的数据扩增，得到更多展开图像数据；玉米果穗分类数据平衡；建立玉米果穗缺陷检测架构；将训练样本输入建立的检测架构生成玉米果穗缺陷检测模型。本发明的检测装置能采集玉米果穗表面缺陷的全方位玉米图像，并获得玉米果穗外观信息展开图像；本发明的检测方法具有精度高、鲁棒性强、适应性好的优点，采用深度学习的方式进行检测，提高了检测的精度与效率，采用语义分割深度学习神经网络检测模型，是一种深度网络结构的自学习检测算法，因而能够很好的从训练数据中学习到有效的识别特征，提高检测的准确率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 玉米 果穗 表面 缺陷 检测 方法 装置 | ||
【主权项】：
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