[发明专利]一种XRD阵列探测器测量X射线全反射角的方法在审
| 申请号： | 202211658523.6 | 申请日： | 2022-12-22 |
| 公开（公告）号： | CN116379968A | 公开（公告）日： | 2023-07-04 |
| 发明（设计）人： | 王春建;徐家坤 | 申请（专利权）人： | 昆明理工大学 |
| 主分类号： | G01B11/26 | 分类号： | G01B11/26;G01N23/207 |
| 代理公司： | 昆明人从众知识产权代理有限公司 53204 | 代理人： | 沈艳尼 |
| 地址： | 650093 云*** | 国省代码： | 云南;53 |
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| 摘要： | 本发明提供一种XRD阵列探测器测量X射线全反射角的方法，涉及X射线衍射技术领域。该XRD阵列探测器测量X射线全反射角的方法，包括以下步骤：S1：掠入射大范围2θ测量，选择单色平行光源开展X射线衍射掠入射测量，选取omega作为掠入射角，选取步长和测试时间开展测量，测量完毕后，记录衍射峰2θ位置；S2：掠入射选区测量，由S1步骤中选择周围无其他衍射峰干扰的单个衍射峰作为选择区域，设计由小到大且等差变化的Omega掠入射角，分别开展S1步骤掠入射测量，并观察衍射峰强度变化趋势。本发明能够准确测量单色X射线在特定材料表面的全反射角，使利用X射线全反射技术的各种表征手段得到更好的表征结果。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 xrd 阵列 探测器 测量 射线 反射角 方法 | ||
【主权项】：
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