[发明专利]基于变间隙F-P干涉仪的长波红外成像光谱仪光学系统在审
| 申请号： | 202211573145.1 | 申请日： | 2022-12-08 |
| 公开（公告）号： | CN115855248A | 公开（公告）日： | 2023-03-28 |
| 发明（设计）人： | 向康;梁娟;胡栋;宋程;吴耀;柴炎 | 申请（专利权）人： | 湖北久之洋红外系统股份有限公司 |
| 主分类号： | G01J3/02 | 分类号： | G01J3/02;G02B26/00;G01J3/28 |
| 代理公司： | 湖北武汉永嘉专利代理有限公司 42102 | 代理人： | 许美红;黄帅 |
| 地址： | 430223 湖北省*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于变间隙F‑P干涉仪的长波红外成像光谱仪光学系统，包括：前置成像物镜，用于将目标成像在系统的一次像面上；变间隙F‑P干涉系统，由一个两端对称的楔形平板和一块平行平板组成，实现分光干涉，在F‑P干涉腔后表面上进行多光束干涉调制和成像；后组中继成像系统，实现二次成像并将一次像面上干涉仪产生的干涉条纹图像转换到探测器靶面上。本发明的基于变间隙F‑P干涉仪的长波红外成像光谱仪光学系统，可在探测器上同时获得目标的二维空间信息与实时光谱信息，具有光谱分辨率高、稳定性好、结构简单、易于小型化的优点。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 间隙 干涉仪 长波 红外 成像 光谱仪 光学系统 | ||
【主权项】：
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