[发明专利]光学传感器芯片的测试系统有效
| 申请号： | 202211566729.6 | 申请日： | 2022-12-07 |
| 公开（公告）号： | CN115575802B | 公开（公告）日： | 2023-03-10 |
| 发明（设计）人： | 牛峰博;庄百万;楼天恒;牟林 | 申请（专利权）人： | 武汉乾希科技有限公司;大连优迅科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R1/04;H04N17/00 |
| 代理公司： | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人： | 王茂华 |
| 地址： | 430074 湖北省武汉市东湖新技术开发区光谷大道*** | 国省代码： | 湖北;42 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本公开的实施例涉及一种光学传感器芯片的测试系统。该测试系统包括：光源控制器，用于生成光源控制信号；光源，对准设置于测试板上的光学传感器芯片，用于根据光源控制信号向光学传感器芯片发射对应的测试光信号；测试板，包括：测试治具，用于固定光学传感器芯片，以及接收光学传感器芯片响应于测试光信号所输出的电信号，测试治具包括：基座，基座上设置有用于安装光学传感器芯片的安装槽；限位装置，限位装置设置有按压部，用于施加压力以便将光学传感器芯片限位于安装槽内，按压部遮挡光学传感器芯片的非光敏区域。本公开可以显著提高图像传感器芯片测试的准确度。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 传感器 芯片 测试 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于武汉乾希科技有限公司;大连优迅科技股份有限公司，未经武汉乾希科技有限公司;大连优迅科技股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202211566729.6/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种镍锰二元复合正极材料及其制备方法
- 下一篇：一种飞机上分布式油箱
