[发明专利]一种双反馈光谱检测方法在审

专利信息
申请号: 202211532169.2 申请日: 2022-12-01
公开(公告)号: CN116295839A 公开(公告)日: 2023-06-23
发明(设计)人: 李书毅 申请(专利权)人: 湖南耀测科技有限公司
主分类号: G01J3/45 分类号: G01J3/45
代理公司: 长沙朕扬知识产权代理事务所(普通合伙) 43213 代理人: 文立兴
地址: 410000 湖南省长沙市岳麓区岳*** 国省代码: 湖南;43
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摘要: 发明公开了一种双反馈光谱检测方法,应用于傅里叶变换光谱仪,包括利用光栅尺测量动镜并获得其位移量A、同时利用激光器测量动镜并获得其位移量A;判断位移量A与位移量A的差值是否小于误差阈值;若差值小于误差阈值,则输出位移量A;若差值大于或等于误差阈值,则输出位移量A并判定激光器测量异常。通过设置光栅尺进行补充测量,并将其测得结果与激光器所测得的结果进行实时对比,可以及时发现激光器的错误测量数据、并取而代之,从而确保输出的动镜位移量的结果始终正确,进而提高测量结果的可靠性、且避免了因输出错误的数据参数导致动镜对应产生错误运动损坏测量仪器。
搜索关键词: 一种 反馈 光谱 检测 方法
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  • 本发明公开了一种手机载内置式芯片光谱仪模块。它包含手机第一个摄像模组的收光模块,内置式芯片光谱仪,手机第二个摄像模组的图像传感器,手机自带的信号处理单元、显示模块以及配套软件;所述内置式芯片光谱仪与手机第一个摄像模组的收光模块共用收光系统,与手机第二个摄像模组的图像传感器共用光电探测器件。本发明分别利用了常用手机自带的两个摄像模组的收光模块和图像传感器,充分挖掘了手机自有硬件的潜力,在此基础上通过内置已经高度微缩的芯片光谱仪,在不需要添加外设的情况下赋予了手机新的光谱分析的功能。与其他手机光谱仪方案相比,降低了成本,提高了便携性。
  • 一种干涉型成像光谱仪相位校正方法及装置-202211399883.9
  • 胡忠正;林军;侯晨辉;朱玮玮;喻文勇;蔡建伟 - 中国资源卫星应用中心
  • 2022-11-09 - 2023-02-03 - G01J3/45
  • 本发明实施例公开了一种干涉型成像光谱仪相位校正方法及装置。所述方法包括:提取所述干涉型成像光谱仪采集的光谱干涉数据中的小双边干涉数据;对所述小双边干涉数据进行补零处理,得到补零后的小双边干涉数据;根据所述补零后的小双边干涉数据,计算得到相位误差;对所述光谱干涉数据进行补零处理,得到补零后的光谱干涉数据;基于所述相位误差对所述补零后的光谱干涉数据的虚部信息进行相位校正,得到所述干涉型成像光谱仪的复原光谱。本发明实施例可以满足干涉型成像仪数据处理的光谱复原精度需求,提高干涉型成像光谱仪的复原后的光谱准确性。
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