[发明专利]一种基于神经网络模型的DRAM储存器性能预测方法和系统在审

专利信息
申请号: 202211529939.8 申请日: 2022-11-30
公开(公告)号: CN115762617A 公开(公告)日: 2023-03-07
发明(设计)人: 蒋洪湖;曾祥卫;皂慧丽;刘石柱;赵春辉 申请(专利权)人: 深圳市章江科技有限公司
主分类号: G11C29/08 分类号: G11C29/08;G11C29/50;G11C29/56;G06N3/04;G06N3/08
代理公司: 深圳市中科云策知识产权代理有限公司 44862 代理人: 何晓
地址: 518000 广东省深圳市福田区沙头街道*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 本说明书实施例提供一种基于神经网络模型的DRAM储存器性能预测方法和系统,其中,所述方法包括:设定测试参数;根据测试参数对DRAM储存器的至少一部分进行测试,获取测试数据;对测试数据进行预处理,获取处理后的数据;基于处理后的数据,通过神经网络模型预测DRAM储存器的至少一部分的性能,得到性能数据,具有可以对DRAM储存器的性能进行预测,可以有效预防DRAM储存器发生失效或故障的优点。
搜索关键词: 一种 基于 神经网络 模型 dram 储存器 性能 预测 方法 系统
【主权项】:
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