[发明专利]用于同时进行坐标跟踪测量与高精度准直姿态测量的仪器在审

专利信息
申请号: 202211453777.4 申请日: 2022-11-21
公开(公告)号: CN115876152A 公开(公告)日: 2023-03-31
发明(设计)人: 孙安斌;甘晓川;张伟;高廷;曹铁泽;邹志;乔磊;王继虎;王鲁涛;马骊群 申请(专利权)人: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
主分类号: G01C1/00 分类号: G01C1/00;G01S17/08;G01B11/00;G02B7/198;G02B27/62
代理公司: 北京正阳理工知识产权代理事务所(普通合伙) 11639 代理人: 王松
地址: 100095*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开的用于同时进行坐标跟踪测量与高精度准直姿态测量的仪器,属于测量装置技术领域。本发明主要由二维跟踪测角组件、集成光学组件、自动变焦准直组件、测距组件和集成式控制测量组件组成。本发明利用测距组件和二维跟踪测角组件构成球坐标测量系统实现合作目标大空间范围内的坐标跟踪测量;利用集成在集成光学组件中的指示光结合变焦准直测量组件和测距组件同步实现带有平面基准镜合作目标准直姿态的自动测量,以解决空间探测器载荷制造过程中载荷姿态的自动准直测量难题;利用自适应准直目标组件,实现回光方向的自适应调整,并基于准直法实现安装有自适应准直目标的被测件的高精度空间位置和姿态的高精度测量。
搜索关键词: 用于 同时 进行 坐标 跟踪 测量 高精度 姿态 仪器
【主权项】:
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