[发明专利]一种微距位移测量设备及其应用在审
申请号: | 202211450401.8 | 申请日: | 2022-11-19 |
公开(公告)号: | CN115824058A | 公开(公告)日: | 2023-03-21 |
发明(设计)人: | 刘慧丽;徐彬彬;景建国;姜锡东 | 申请(专利权)人: | 浙江交工集团股份有限公司;杭州蓝天仪器有限公司 |
主分类号: | G01B11/02 | 分类号: | G01B11/02;G01N3/12 |
代理公司: | 杭州赛科专利代理事务所(普通合伙) 33230 | 代理人: | 宋飞燕 |
地址: | 310052 浙江省杭*** | 国省代码: | 浙江;33 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明涉及一种微距位移测量设备及其应用,以定位基座定位待测物,以位移发生单元使待测物发生位移,以测量机构的测量组件获取待测物在发生位移前、后的位移值;设备可以被应用于防眩板抗风荷载试验。本发明有效结合显微镜测量设备、光学测量设备以及电学测量设备的优势;测量精度高、可以通过放大图像的方式获得更准确的准星,稳定性好,性价比高;对于检测环境要求较低,对于待检测的材料包容度高;可以被应用于多种场景,响应效率高。 | ||
搜索关键词: | 一种 位移 测量 设备 及其 应用 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于浙江交工集团股份有限公司;杭州蓝天仪器有限公司,未经浙江交工集团股份有限公司;杭州蓝天仪器有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202211450401.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种集成电路快捷测试系统
- 下一篇:一种耐高温耐腐蚀玻璃纤维电子布