[发明专利]一种集成电容器及其制备方法在审

专利信息
申请号: 202211436445.5 申请日: 2022-11-16
公开(公告)号: CN116113314A 公开(公告)日: 2023-05-12
发明(设计)人: 雷嘉成;彭昊炆;许东 申请(专利权)人: 上海新微半导体有限公司
主分类号: H10N97/00 分类号: H10N97/00
代理公司: 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 代理人: 余明伟
地址: 200120 上海市浦东新区中国(*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供一种集成电容器及其制备方法,该集成电容器包括衬底、介电层、下极板层、第一介质层、凹槽、第二介质层及上极板层,其中,介电层覆盖衬底上表面;下极板层位于介电层的上表面,下极板层沿X方向的长度小于介电层沿X方向的长度;第一介质层中设有凹槽,第一介质层覆盖凹槽两侧介电层的上表面及下极板层的显露表面,凹槽位于下极板层上方,凹槽底面显露出下极板层的上表面;第二介质层覆盖第一介质层上表面及凹槽的内壁和底面;上极板层位于第二介质层的上表面,且上极板层填充凹槽。本发明通过形成位于第一介质层中的凹槽之后,再依次形成第二介质层及填充凹槽的上极板层,避免了形成凹槽时损伤第二介质层,简化了器件结构。
搜索关键词: 一种 集成 电容器 及其 制备 方法
【主权项】:
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