[发明专利]一种宇航用液体介质真空检漏方法在审

专利信息
申请号: 202211424732.4 申请日: 2022-11-14
公开(公告)号: CN115683479A 公开(公告)日: 2023-02-03
发明(设计)人: 郭崇武;史纪军;任国华;孙立臣;孙立志;刘恩均;齐飞飞;张海峰;齐嘉东;张秀廷 申请(专利权)人: 北京卫星环境工程研究所
主分类号: G01M3/20 分类号: G01M3/20
代理公司: 北京志霖恒远知识产权代理有限公司 11435 代理人: 郭栋梁
地址: 100094 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种宇航用液体介质真空检漏方法,包括校准系统、漏率测试系统、标准漏孔和辅助抽气系统,校准系统与漏率测试系统均包括机械泵一、电磁阀一、真空插板阀、真空规一和四极质谱计;校准系统还包括前级分子泵、主分子泵、稳压室、抽气小孔一和校准室;漏率测试系统还包括分子泵一、真空容器和被测产品;标准漏孔包括手阀一、抽气小孔二、手阀二、真空规二、手阀三、工质容器和手阀四;辅助抽气系统包括分子泵二、电磁阀二和机械泵二。本发明中,通过测试系统对标准漏孔进行标定,再通过比对的方法实现被测产品的漏率测试,以实现快捷、有效地对存储介质常温常压下为液态并且无检漏口和充气口产品的检漏,并给出有效、可靠的漏率。
搜索关键词: 一种 宇航 液体 介质 真空 检漏 方法
【主权项】:
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