[发明专利]一种宇航用液体介质真空检漏方法

说明书

本发明公开了一种宇航用液体介质真空检漏方法，包括校准系统、漏率测试系统、标准漏孔和辅助抽气系统，校准系统与漏率测试系统均包括机械泵一、电磁阀一、真空插板阀、真空规一和四极质谱计；校准系统还包括前级分子泵、主分子泵、稳压室、抽气小孔一和校准室；漏率测试系统还包括分子泵一、真空容器和被测产品；标准漏孔包括手阀一、抽气小孔二、手阀二、真空规二、手阀三、工质容器和手阀四；辅助抽气系统包括分子泵二、电磁阀二和机械泵二。本发明中，通过测试系统对标准漏孔进行标定，再通过比对的方法实现被测产品的漏率测试，以实现快捷、有效地对存储介质常温常压下为液态并且无检漏口和充气口产品的检漏，并给出有效、可靠的漏率。

技术领域

本发明涉及密封检漏技术领域，尤其涉及一种宇航用液体介质真空检漏方法。

背景技术

随着国内航天事业的不断发展，宇航产品中存储介质除气体介质外，还存在存储常温常压下为液态工质的情况。另外，该类存储液态工质的宇航产品无检漏口和充气口，无法采用常规宇航产品氦质谱真空检漏方法进行漏率测试。

由于不同液态工质的常温气相压力各不相同，并且均低于一个大气压，标准漏孔在制备过程中，需要把工质存贮罐内的空气完全抽除，以防止工质存贮罐内部工质无法气化成气体状态。所测工质常温气相压力较低，相同的标准漏孔孔径尺寸，不同的工质气体通过标准漏孔的运动方式各异，不适用于理想气体方程。同时，孔径太小，工质容易堵塞漏孔，或校准系统和测试系统无法检测到标准漏孔值；孔径太大，在测试过程中，真空系统容易把工质存贮罐内部工质抽除，造成测试结果误差大。因此，需制作一系列孔径标准漏孔，估算标准漏孔的漏率，在校准系统上采用相应的校准方法校准标准漏孔。

本发明提出一种可对存储介质常温常压下为液态并且无检漏口和充气口的宇航产品的检漏方法。此方法，首先需制备、校准所存储液体工质标准漏孔，再结合四极质谱检漏国家标准，搭建检漏系统，将机械泵、电磁阀、分子泵、真空规、四极质谱计、真空容器、所制备的标准漏孔相连接，通过测试系统对标准漏孔进行标定，再通过比对的方法实现被测产品漏率测试，可解决存储液态工质宇航产品无检漏口漏率检测难题。此方法，可快捷、有效地对存储介质常温常压下为液态并且无检漏口和充气口的产品进行检漏，最大的特点是通过制备、校准不同液态工质的标准漏孔，可实现对存储不同液态工质并且无检漏口和充气口产品的漏率测试。

发明内容

本发明的目的在于：为了解决上述问题，而提出的一种宇航用液体介质真空检漏方法。

为了实现上述目的，本发明采用了如下技术方案：

一种宇航用液体介质真空检漏方法，包括校准系统、漏率测试系统、标准漏孔和辅助抽气系统，校准系统与漏率测试系统均包括机械泵一、电磁阀一、真空插板阀、真空规一和四极质谱计；

校准系统还包括前级分子泵、主分子泵、稳压室、抽气小孔一和校准室；

漏率测试系统还包括分子泵一、真空容器和被测产品；

标准漏孔包括手阀一、抽气小孔二、手阀二、真空规二、手阀三、工质容器和手阀四；

辅助抽气系统包括分子泵二、电磁阀二和机械泵二。

优选地，校准系统对液体工质标准漏孔的校准包括以下几个步骤：

S1、手阀一处于关闭状态，开启校准系统机械泵一、前级分子泵、主分子泵及相应阀门，待校准室压力稳定后，记录真空规一的压力值为P₁；

S2、手阀一和手阀三处于关闭状态，开启除校准系统外其他真空泵及阀门，抽至极限真空；

S3、关闭手阀四，打开手阀三，观察真空规二达到被测工质常温气相压力；

S4、开启手阀一，待校准室压力稳定后，记录真空规一的压力值为P₂，观察四极质谱计的谱图，记录对应工质质谱的谱峰质量数；