[发明专利]一种用于芯片测试的大推力高精度的顶升和下拉装置有效
| 申请号： | 202211414946.3 | 申请日： | 2022-11-11 |
| 公开（公告）号： | CN115451097B | 公开（公告）日： | 2023-01-06 |
| 发明（设计）人： | 顾培东 | 申请（专利权）人： | 上海捷策创电子科技有限公司 |
| 主分类号： | F16H37/12 | 分类号： | F16H37/12;G01R31/28;G01R1/02 |
| 代理公司： | 上海谱璟专利代理事务所(普通合伙) 31422 | 代理人： | 沈敏 |
| 地址： | 201203 上海市浦东新区中国(上海)自*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供一种用于芯片测试的大推力高精度的顶升和下拉装置，包括：步进电机，其设置于顶升和下拉装置的第一端部，步进电机用于产生初始扭矩；第一级齿轮通过步进电机获得第一扭矩，第二级齿轮通过第一级齿轮获得第二扭矩，第三级齿轮通过第二级齿轮获得第三扭矩；直齿条，其和第三级齿轮抵接，直齿条将第三扭矩转化成第一拉力；异形凸轮，其设置于顶升和下拉装置的第二端部，异形凸轮和直齿条抵接，异形凸轮用于将第一拉力增力后获得第二拉力，并将第二拉力转换为第三拉力。本发明提供的用于芯片测试的大推力高精度的顶升和下拉装置，通过设置多级齿轮，并通过直齿条和异形凸轮将水平拉力转换为垂直拉力，实现高精度的顶升和下拉功能。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 芯片 测试 推力 高精度 下拉 装置 | ||
【主权项】：
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