[发明专利]一种自下而上的原子气室制造装置及方法在审

专利信息
申请号: 202211410601.0 申请日: 2022-11-11
公开(公告)号: CN115790559A 公开(公告)日: 2023-03-14
发明(设计)人: 窦子媛;刘元正;闫东超;明泽额尔顿 申请(专利权)人: 中国航空工业集团公司西安飞行自动控制研究所
主分类号: G01C19/58 分类号: G01C19/58;G01R33/02;G04F5/14
代理公司: 中国航空专利中心 11008 代理人: 秦媛媛
地址: 710076 陕*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明属于光学精密制造领域,涉及一种自下而上的原子气室制造装置和制造方法。装置由真空腔、抽气管路、进气管路、放电极板组、绝缘支架、气室、激光器、碱金属源和真空规组成。利用本装置自下而上制造原子气室,能够制备各种气压配比需求的气室,有助于实现订制化制备;减少了气室内壁杂质吸附的弊端,降低了不可控风险。本装置集成度高、制备效率高、二次开发空间大,有利于加速原子气室的技术迭代和核磁共振陀螺、原子钟、磁强计等关键技术的跨代发展。
搜索关键词: 一种 自下而上 原子 制造 装置 方法
【主权项】:
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