[发明专利]TDEV快速分析方法和系统及TDEV指标分析曲线的分析方法在审

专利信息
申请号: 202211395590.3 申请日: 2022-11-07
公开(公告)号: CN115766366A 公开(公告)日: 2023-03-07
发明(设计)人: 罗燕华;陈波;白岩 申请(专利权)人: 深圳市夏光时间技术有限公司
主分类号: H04L27/26 分类号: H04L27/26;H04J3/06;G06F17/10
代理公司: 深圳正和天下专利代理事务所(普通合伙) 44581 代理人: 王少强
地址: 518000 广东省深圳市南山区西丽*** 国省代码: 广东;44
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摘要: TDEV快速分析方法:以t0取时间误差样本xi,定义两个同时滑动的滑动窗口长度,采用两个窗口边界差值来计算方差,对所述平方值求和,将求和值放入缓存Temp,在j1时,调用所述缓存值计算Temp[j],再将Temp[j]代入公式TDEV计算公式计算得出TDEV[j]值,本申请TDEV指标分析曲线的分析方法将计算得到的所有TDEV值拟合成指标分析曲线和对应标准的系列TDEV模板进行比对。TDEV快速分析系统包括采集模块以采集时间误差样本xi;缓存模块以缓存Temp[j];第一计算模块、第二计算模块、第三计算模块以计算得出TDEV[j]值。本申请分析方法大大提高了分析效率。
搜索关键词: tdev 快速 分析 方法 系统 指标 曲线
【主权项】:
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