[发明专利]TDEV快速分析方法和系统及TDEV指标分析曲线的分析方法

权利要求书

1.一种TDEV快速分析方法，其特征在于，其包括

以t0时间间隔取时间误差样本xi；

定义两个滑动窗口长度t＝it0，并让两个滑动窗口同时滑动；

采用两个窗口边界差值来计算方差，从第一格j＝1开始，计算[x(i+2n)-x(i+n)]-[x(i+n)-x(i)]的平方，i＝j..n+j+1；

对上述平方值求和，并设置缓存Temp，

首先使用缓存存储j＝1的初始求和值Temp[1]，

j1时，调用前一个缓存值计算Temp[j]，

Temp[j]＝Temp[j-1]+X[j-1+3n]–3*(X[j-1+2n]-X[j-1+n])-X[j-1]，

j＝2..(N-3*n+1)，i＝j..n+j+1

将上述Temp[j]代入公式

计算得出TDEV[j]值，其中，

N：以t0时间间隔取样得到的样本总数

t0：时间误差采样间隔；

n：时间t内的采样间隔数，t＝n*t0

xi：时间误差样本。

2.如权利要求1所述的TDEV快速分析方法，其特征在于，

将得到的所有TDEV值拟合得到TDEV指标分析曲线。

3.如权利要求1所述的TDEV快速分析方法，其特征在于，

采样周期it0的相位误差：

TIE(i)＝x(it0)，i＝0，1，2，N；

将T＝N*t0的离散TIE采样点以t0的间隔为时间坐标画成一条曲线，所述两个滑动窗口在所述曲线滑动，所述滑动窗口t＝it0内有i个所述离散TIE点。

4.一种TDEV指标分析曲线的分析方法，其特征在于，其包括

在时频仪表上先测量出被测时频信号的时间误差样本xi；

然后采用如权利要求1所述TDEV快速分析方法对测量得到的时间误差样本xi进行分析，得到指标分析曲线的所有TDEV值；

再把该指标分析曲线和ITU-T的对应标准G.811、G.812、G.813、G.823、G.8261、G.8262、G.8273的系列TDEV模板进行比对。

5.一种TDEV快速分析方法，采用TDEV评估公式计算TDEV值，

其中，

N：以t0时间间隔取样得到的样本总数

t0：时间误差采样间隔；

n：时间t内的采样间隔数，t＝n*t0

xi：时间误差样本；

其特征在于，设置缓存Temp，

j＝1，首先使用缓存存储j＝1的求和值Temp[1]，

j1时，调用所述缓存值计算

Temp[j]＝Temp[j-1]+X[j-1+3n]–3*(X[j-1+2n]-X[j-1+n])-X[j-1]

j＝2..(N-3*n+1)，i＝j..n+j+1

将上述Temp[j]代入公式计算得出TDEV[j]值。