[发明专利]TDEV快速分析方法和系统及TDEV指标分析曲线的分析方法在审
| 申请号: | 202211395590.3 | 申请日: | 2022-11-07 |
| 公开(公告)号: | CN115766366A | 公开(公告)日: | 2023-03-07 |
| 发明(设计)人: | 罗燕华;陈波;白岩 | 申请(专利权)人: | 深圳市夏光时间技术有限公司 |
| 主分类号: | H04L27/26 | 分类号: | H04L27/26;H04J3/06;G06F17/10 |
| 代理公司: | 深圳正和天下专利代理事务所(普通合伙) 44581 | 代理人: | 王少强 |
| 地址: | 518000 广东省深圳市南山区西丽*** | 国省代码: | 广东;44 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | tdev 快速 分析 方法 系统 指标 曲线 | ||
TDEV快速分析方法:以t0取时间误差样本xi,定义两个同时滑动的滑动窗口长度,采用两个窗口边界差值来计算方差,对所述平方值求和,将求和值放入缓存Temp,在j1时,调用所述缓存值计算Temp[j],再将Temp[j]代入公式TDEV计算公式计算得出TDEV[j]值,本申请TDEV指标分析曲线的分析方法将计算得到的所有TDEV值拟合成指标分析曲线和对应标准的系列TDEV模板进行比对。TDEV快速分析系统包括采集模块以采集时间误差样本xi;缓存模块以缓存Temp[j];第一计算模块、第二计算模块、第三计算模块以计算得出TDEV[j]值。本申请分析方法大大提高了分析效率。
【技术领域】
本申请涉及通信技术时频同步领域,尤其是关于TDEV噪声的分析方法。
【背景技术】
数字信号的各有效瞬间相对其理想时间位置的长时偏离(周期低于10Hz)称为漂移。漂移采用MTIE和TDEV(时间偏差)两个参数来描述。其中,TDEV以统计的方式通过积分时间展示了给定信号的相位偏离理想信号的时域变化。
在时间频率测试领域中,由于漂移和噪声是评估时间和频率信号的重要参考指标,因此使用什么方式对时频信号漂移和噪声进行测量分析就显得非常重要。
在ITU-T国际电信联盟标准ITU-T G.810里面已提供了具体的TDEV评估公式。
X1,X2,…,Xn(X(1..N)):在一个测量周期内实际测量得到的时间误差样本数据。具体为对于给定的时延误差值以t0为取样间隔进行采样,最后形成个等间隔取样{x0,x1,x2,…}样本数据结果。
TDEV(Time Deviation,时间偏差):时间误差样本X(1..N)在一个预期时间变化内的积分时间量度函数。可以把TDEV(t)看作是经滤波后的时间误差的均方根值,其提供了有关信号相位(或时间)噪声的频谱内容的信息。基于时间误差样本的序列,可以使用以下公式进行计算估计:
其中,
N:以t0时间间隔取样得到的样本总数
t0:时间误差采样间隔;
n:时间t内的采样间隔数,t=n*t0
xi:时间误差样本;
按照上述TDEV公式直接使用后发现小数据分析没有什么问题,但如果取样样本数据量很大时,如果仅依照公式去实现计算机处理分析的话,分析时间非常长,比如拿1000万个的数据进行分析,1台普通办公计算机处理的时间会超过30天,那么直接通过程序分析公式的时间就会变得无法接受了。一旦出现巨型数据需要分析,那么用在分析上的时间花销是海量的,就会带来计算机巨大的资源消耗,并且给测试人员带来不便。由此十分有必要解决时频仪表数据处理分析的耗时问题。
【发明内容】
本申请的目的在于提供一种TDEV快速分析方法,TDEV指标分析曲线的分析方法,以及TDEV快速分析系统。
为实现本申请目的,提供以下技术方案:
本申请提供一种TDEV快速分析方法,其包括
以t0时间间隔取时间误差样本xi;
定义两个滑动窗口长度t=it0,并让两个滑动窗口同时滑动;
采用两个窗口边界差值来计算方差,从第一格j=1开始,计算[x(i+2n)-x(i+n)]-[x(i+n)-x(i)]的平方,i=j..n+j+1;
对上述平方值求和,并设置缓存Temp,
首先使用缓存存储j=1的初始求和值Temp[1],
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳市夏光时间技术有限公司,未经深圳市夏光时间技术有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202211395590.3/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。





