[发明专利]一种传感器性能测试方法、装置、设备及存储介质在审
| 申请号： | 202211380649.1 | 申请日： | 2022-11-04 |
| 公开（公告）号： | CN115727888A | 公开（公告）日： | 2023-03-03 |
| 发明（设计）人： | 陈利平;陶志专;金昶;向丽丽;郑晓龙 | 申请（专利权）人： | 苏州佳祺仕科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01D18/00 | 分类号： | G01D18/00 |
| 代理公司： | 广州三环专利商标代理有限公司 44202 | 代理人： | 苗芬芬 |
| 地址： | 215011 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种传感器性能测试方法、装置、设备及存储介质，上述方法包括：对第一传感器和第二传感器分别进行响应时间测试，得到第一响应时间和第二响应时间，根据上述第一响应时间和上述第二响应时间的差异，确定上述第一传感器的响应性能，其中响应时间测试包括，以第一传感器为例：在触发器的移动过程中，由脉冲计数器持续记录脉冲发生器输出的脉冲信号，直至上述第一传感器输出响应信号，基于上述脉冲信号的输出频率和脉冲记录结果确定上述第一响应时间。本申请通过上述方法可以对传感器的时间性能和稳定性能进行评估，便于在不同应用场景中基于传感器性能对传感器进行选取，并且测试过程较为简单方便，容易实现。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 传感器 性能 测试 方法 装置 设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
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