[发明专利]一种传感器性能测试方法、装置、设备及存储介质

说明书

本申请公开了一种传感器性能测试方法、装置、设备及存储介质，上述方法包括：对第一传感器和第二传感器分别进行响应时间测试，得到第一响应时间和第二响应时间，根据上述第一响应时间和上述第二响应时间的差异，确定上述第一传感器的响应性能，其中响应时间测试包括，以第一传感器为例：在触发器的移动过程中，由脉冲计数器持续记录脉冲发生器输出的脉冲信号，直至上述第一传感器输出响应信号，基于上述脉冲信号的输出频率和脉冲记录结果确定上述第一响应时间。本申请通过上述方法可以对传感器的时间性能和稳定性能进行评估，便于在不同应用场景中基于传感器性能对传感器进行选取，并且测试过程较为简单方便，容易实现。

技术领域

本申请涉及传感器性能测试领域，尤其涉及一种传感器性能测试方法、装置、设备及存储介质。

背景技术

在电气选型中，传感器性能会直接影响控制的精度，尤其是在绝对位置控制中，原点传感器性能差，将会导致整个坐标系的偏移，这对于一些传感器响应性能要求高的应用场景，比如抓取工艺，在控制方面将会产生很大的影响。

而一般的传感器厂家不会标出传感器的响应时间，也不会标出响应时间的偏差，在一些对传感器响应性能要求比较高的应用场景中，用户无法根据具体需求选取到最合适的传感器，若传感器的响应性能不符合应用场景的需求，这会给用户带来一定的损失。

发明内容

为了解决上述提出的至少一个技术问题，本申请提出了一种传感器性能测试方法、装置、设备及存储介质。

根据本申请公开的一方面，提供了一种传感器性能测试方法，上述方法包括：

对第一传感器进行响应时间测试，得到第一响应时间；其中，上述响应时间测试包括：在触发器的移动过程中，由脉冲计数器持续记录脉冲发生器输出的脉冲信号，直至上述第一传感器输出响应信号，基于上述脉冲信号的输出频率和脉冲记录结果确定上述第一响应时间；

对第二传感器进行响应时间测试，得到第二响应时间；

根据上述第一响应时间和上述第二响应时间的差异，确定上述第一传感器的响应性能。

在一些可能的实施方式中，上述第二传感器包括上述第一传感器或标准传感器，上述标准传感器为符合时间性能标准的第一传感器。

在一些可能的实施方式中，上述第二传感器为上述第一传感器，上述根据上述第一响应时间和上述第二响应时间的差异，确定上述第一传感器的响应性能，包括：

获取上述第一响应时间和上述第二响应时间的目标差值；

在上述目标差值小于稳定性性能标准所对应的第一阈值的情况下，确定上述第一传感器符合上述稳定性性能标准。

在一些可能的实施方式中，上述第二传感器为上述标准传感器，上述根据上述第一响应时间和上述第二响应时间的差异，确定上述第一传感器的响应性能，包括：

获取上述第一响应时间和上述第二响应时间的目标差值；

在上述目标差值小于时间性能标准所对应的第二阈值的情况下，确定上述第一传感器符合上述时间性能标准。

在一些可能的实施方式中，上述输出频率高于第一阈值所对应的第一频率，上述第一阈值与稳定性性能标准相对应；

或，上述输出频率高于第二阈值所对应的第二频率，上述第二阈值与时间性能标准相对应。

在一些可能的实施方式中，上述脉冲记录结果包括脉冲信号数量和移动路径长度；

上述脉冲信号数量为在上述触发器开始移动直至上述第一传感器输出上述响应信号过程中，上述脉冲计数器获取到的全部脉冲信号的数量；

上述移动路径长度为在上述触发器开始移动直至上述第一传感器输出上述响应信号过程中，上述触发器移动的距离。