[发明专利]一种传感器性能测试方法、装置、设备及存储介质在审

专利信息
申请号: 202211380649.1 申请日: 2022-11-04
公开(公告)号: CN115727888A 公开(公告)日: 2023-03-03
发明(设计)人: 陈利平;陶志专;金昶;向丽丽;郑晓龙 申请(专利权)人: 苏州佳祺仕科技股份有限公司
主分类号: G01D18/00 分类号: G01D18/00
代理公司: 广州三环专利商标代理有限公司 44202 代理人: 苗芬芬
地址: 215011 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 传感器 性能 测试 方法 装置 设备 存储 介质
【权利要求书】:

1.一种传感器性能测试方法,其特征在于,所述方法包括:

对第一传感器进行响应时间测试,得到第一响应时间;其中,所述响应时间测试包括:在触发器的移动过程中,由脉冲计数器持续记录脉冲发生器输出的脉冲信号,直至所述第一传感器输出响应信号,基于所述脉冲信号的输出频率和脉冲记录结果确定所述第一响应时间;

对第二传感器进行响应时间测试,得到第二响应时间;

根据所述第一响应时间和所述第二响应时间的差异,确定所述第一传感器的响应性能。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述第二传感器包括所述第一传感器或标准传感器,所述标准传感器为符合时间性能标准的第一传感器。

3.根据权利要求1或2所述的方法,其特征在于,所述第二传感器为所述第一传感器,所述根据所述第一响应时间和所述第二响应时间的差异,确定所述第一传感器的响应性能,包括:

获取所述第一响应时间和所述第二响应时间的目标差值;

在所述目标差值小于稳定性性能标准所对应的第一阈值的情况下,确定所述第一传感器符合所述稳定性性能标准。

4.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述第二传感器为所述标准传感器,所述根据所述第一响应时间和所述第二响应时间的差异,确定所述第一传感器的响应性能,包括:

获取所述第一响应时间和所述第二响应时间的目标差值;

在所述目标差值小于时间性能标准所对应的第二阈值的情况下,确定所述第一传感器符合所述时间性能标准。

5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述输出频率高于第一阈值所对应的第一频率,所述第一阈值与稳定性性能标准相对应;

或,所述输出频率高于第二阈值所对应的第二频率,所述第二阈值与时间性能标准相对应。

6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述脉冲记录结果包括脉冲信号数量和移动路径长度;

所述脉冲信号数量为在所述触发器开始移动直至所述第一传感器输出所述响应信号过程中,所述脉冲计数器获取到的全部脉冲信号的数量;

所述移动路径长度为在所述触发器开始移动直至所述第一传感器输出所述响应信号过程中,所述触发器移动的距离。

7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,在所述脉冲记录结果包括所述脉冲信号数量的情况下,所述基于所述脉冲信号的输出频率和脉冲记录结果确定所述第一响应时间,包括:基于所述脉冲信号数量和所述输出频率确定所述第一响应时间;

或,

在所述脉冲记录结果包括移动路径长度的情况下,所述基于所述脉冲信号的输出频率和脉冲记录结果确定所述第一响应时间,包括:基于所述移动路径长度和触发器移动速度确定所述第一响应时间。

8.一种传感器性能测试装置,其特征在于,所述装置包括:

第一响应时间获取模块,用于对第一传感器进行响应时间测试,得到第一响应时间;其中,所述响应时间测试包括:在触发器的移动过程中,由脉冲计数器持续记录脉冲发生器输出的脉冲信号,直至所述第一传感器输出响应信号,基于所述脉冲信号的输出频率和脉冲记录结果确定所述第一响应时间;

第二响应时间获取模块,用于对第二传感器进行响应时间测试,得到第二响应时间;

响应性能确定模块,用于根据所述第一响应时间和所述第二响应时间的差异,确定所述第一传感器的响应性能。

9.一种传感器性能测试设备,其特征在于,所述设备用于执行权利要求1至7中任意一项所述的传感器性能测试方法,所述设备包括:

触发器,所述触发器用于触发第一传感器和第二传感器输出信号;

脉冲发生器,所述脉冲发生器用于发生脉冲;

脉冲计数器,所述脉冲计数器用于计算所述脉冲的数量或移动路径,和,捕捉所述第一传感器和所述第二传感器输出所述信号。

10.一种非易失性计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序指令,其特征在于,所述计算机程序指令被处理器执行时实现权利要求1至7中任意一项所述的一种传感器性能测试方法。

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