[发明专利]用于提高测量精度的测距系统在审
| 申请号： | 202211345415.3 | 申请日： | 2021-09-15 |
| 公开（公告）号： | CN115540757A | 公开（公告）日： | 2022-12-30 |
| 发明（设计）人： | 张和君;冯福荣;廖学文;张琥杰;陈源;梁志明 | 申请（专利权）人： | 深圳市中图仪器股份有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/00 | 分类号： | G01B11/00;G01C15/00 |
| 代理公司： | 深圳舍穆专利代理事务所(特殊普通合伙) 44398 | 代理人： | 邱爽 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市南山区*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种用于提高测量精度的测距系统，包括：绝对测距模块和相对测距模块，绝对测距模块包括用于产生第一光束的第一发射单元、用于反射第一光束并形成第一反射光束的第一反射单元、用于对第一光束和第一反射光束进行分束的第一分光单元、以及具有光学开关并用于控制第一光束的路径的开关单元，当光学开关位于第一位置，第一光束经由开关单元到达第一反射单元，第一反射光束经由开关单元到达第一分光单元，当光学开关位于第二位置，第一光束经由开关单元到达辅助测量装置，并形成第二反射光束，第二反射光束经由开关单元到达第一分光单元；相对测距模块产生第二光束，第二光束到达辅助测量装置并形成第三反射光束。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 提高 测量 精度 测距 系统 | ||
【主权项】：
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