[发明专利]一种芯片调试装置和方法在审
| 申请号: | 202211342198.2 | 申请日: | 2022-10-31 |
| 公开(公告)号: | CN115658415A | 公开(公告)日: | 2023-01-31 |
| 发明(设计)人: | 祁伟;谌彤;敖海 | 申请(专利权)人: | 芯动微电子科技(武汉)有限公司 |
| 主分类号: | G06F11/273 | 分类号: | G06F11/273;G06F11/22 |
| 代理公司: | 深圳市六加知识产权代理有限公司 44372 | 代理人: | 向彬 |
| 地址: | 430000 湖北*** | 国省代码: | 湖北;42 |
| 权利要求书: | 暂无信息 | 说明书: | 暂无信息 |
| 摘要: | 本发明提供一种芯片调试装置和方法,通过将接口转换单元与外部上位机之间建立信息交互,配置单元向通过通用接口依次连接的信号选择控制器、逻辑触发单元和缓存单元控制器发送对应的配置信息,促使待调信号进行逻辑触发并存储至缓存单元中,根据配置单元的控制信号将缓存后的数据发送给配置单元,进而提供给同接口转换单元连接的外部上位机;根据上述调试装置,通过配置选择信号源以及触发条件,可以采集目标时刻点的信号波形,波形数据通过外部总线接口传给上位机,并通过上位机软件显示,实现了在没有示波器和外部调试仪器参与的情况下对芯片内部逻辑的调试,从而降低调试条件,提升调试的便利性。 | ||
| 搜索关键词: | 一种 芯片 调试 装置 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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