[发明专利]一种新的计量芯片校准方法

摘要

本发明提出了一种新的计量芯片校准方法，包括：设置台体即电能表检验装置，使其在功率因数为1.0的条件下进行输出，并获取台体输出的数据，以及台体的输出经过计量芯片计量后的数据P功率原始值；计算得到电压比例系数R电压，电流比例系数R电流和功率比例系数R1.0功率；设置台体，使其在预设的功率因数条件下进行输出，计算得到在当前条件下的功率误差Err功率，计算得到角差β及其正弦和余弦值；判断是否进行二次补偿校准；根据功率比例系数R1.0功率、角差β及其正弦和余弦值，计算得到当前功率因数条件下的功率比例系数R功率，从而计算出准确的功率有效值P功率有效值；完成所述计量芯片校准。