[发明专利]一种基于F-P干涉的磁场测量系统在审
| 申请号： | 202211332521.8 | 申请日： | 2022-10-28 |
| 公开（公告）号： | CN115575870A | 公开（公告）日： | 2023-01-06 |
| 发明（设计）人： | 祝连庆;王帅;董明利;祝静;张旭;夏嘉斌 | 申请（专利权）人： | 广州市南沙区北科光子感知技术研究院;北京信息科技大学 |
| 主分类号： | G01R33/032 | 分类号： | G01R33/032 |
| 代理公司： | 北京恒律知识产权代理有限公司 11416 | 代理人： | 庞立岩 |
| 地址： | 511400 广东省广州*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种基于F‑P干涉的磁场测量系统，包括：宽带光源，连接所述宽带光源的环形器，所述环形器分别连接光纤F‑P磁场传感器和光谱仪；其中，所述光纤F‑P磁场传感器包括磁致伸缩材料基片，第一单模光纤和第二单模光纤，所述第一单模光纤的第一端和所述第二单模光纤的第二端分别嵌套在毛细管中，所述第一单模光纤的第一端和所述第二单模光纤的第二端之间形成F‑P腔；所述毛细管固定在所述磁致伸缩材料基片上。本发明体积小、结构稳定、反应速度快且测量精度高，能够进行高精度的磁场测量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 干涉 磁场 测量 系统 | ||
【主权项】：
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