[发明专利]直线度测量系统和直线度测量方法在审

专利信息
申请号: 202211324553.3 申请日: 2022-10-27
公开(公告)号: CN115824135A 公开(公告)日: 2023-03-21
发明(设计)人: 李辉 申请(专利权)人: 合肥芯碁微电子装备股份有限公司
主分类号: G01B21/24 分类号: G01B21/24;G03F7/20
代理公司: 北京景闻知识产权代理有限公司 11742 代理人: 李亚洲
地址: 230088 安徽省*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 发明公开了一种直线度测量系统和直线度测量方法。直线度测量系统包括底座、定位运动装置、测量装置和数据采集仪器,定位运动装置可移动地设置在底座上;测量装置固定在底座上,用于在定位运动装置移动至目标测量位置时,测量定位运动装置的各个位置点与测量装置之间的距离值;数据采集仪器与测量装置连接,用于根据距离值获得定位运动装置的直线度曲线,以及,根据所述直线度曲线对所述定位运动装置的直线度进行优化。本发明的直线度测量系统的测量结果准确、结构简单、成本低且便于调节,系统的工作效率高。
搜索关键词: 直线 测量 系统 测量方法
【主权项】:
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