[发明专利]磁透镜调试方法和装置、计算机设备、存储介质在审
| 申请号： | 202211320131.9 | 申请日： | 2022-10-26 |
| 公开（公告）号： | CN115391493A | 公开（公告）日： | 2022-11-25 |
| 发明（设计）人： | 马晓旻;付鲁堂;王培毅;齐汝西;吴静;高远瞩;许淑嫚;谭菊英;李沛尧;郭嘉豪 | 申请（专利权）人： | 南方科技大学 |
| 主分类号： | G06F16/33 | 分类号： | G06F16/33;G01N23/04;G01N23/20008;H01J37/14;H01J37/26 |
| 代理公司： | 华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人： | 赖远龙 |
| 地址： | 518055 广东省深*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请涉及一种磁透镜调试方法和装置、计算机设备、存储介质。方法包括：获取Digital Micrograph软件的调试选项集中被选取的多个待调试选项；在多个待调试选项中选择顺序满足第一预设条件的目标调试选项；根据目标调试选项对磁透镜进行调试，得到目标调试值；判断目标调试选项的调试初始值或目标调试值是否满足第二预设条件；若否，返回执行根据目标调试选项对磁透镜进行调试，直至得到满足第二预设条件的目标调试值；若是，将目标调试选项置为已调试状态，并从待调试选项中剔除，返回执行在多个待调试选项中选择顺序满足第一预设条件的待调试选项，直到各待调试选项处于已调试状态。采用本方法能够提高磁透镜调试的准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 透镜 调试 方法 装置 计算机 设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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