[发明专利]磁透镜调试方法和装置、计算机设备、存储介质

说明书

本申请涉及一种磁透镜调试方法和装置、计算机设备、存储介质。方法包括：获取Digital Micrograph软件的调试选项集中被选取的多个待调试选项；在多个待调试选项中选择顺序满足第一预设条件的目标调试选项；根据目标调试选项对磁透镜进行调试，得到目标调试值；判断目标调试选项的调试初始值或目标调试值是否满足第二预设条件；若否，返回执行根据目标调试选项对磁透镜进行调试，直至得到满足第二预设条件的目标调试值；若是，将目标调试选项置为已调试状态，并从待调试选项中剔除，返回执行在多个待调试选项中选择顺序满足第一预设条件的待调试选项，直到各待调试选项处于已调试状态。采用本方法能够提高磁透镜调试的准确性。

技术领域

本申请涉及透镜技术领域，特别是涉及一种磁透镜调试方法和装置、计算机设备、存储介质。

背景技术

在磁透镜中，当光源电子经过样品后，大约80%的电子是直接透射过去的，5%的电子发生了弹性散射，15%的电子发生了非弹性散射。发生非弹性散射的电子会干扰成像，为了提高图像的对比度，人们会选择加装能量过滤器过滤到这部分电子。为了保证磁透镜的光在经过能量过滤器之后依旧保持良好的单色性、成像无畸变，需要对能量过滤器内的磁透镜进行调试，以校正磁透镜参数。

Digital Micrograph (DM)一种用于透射电镜数据采集和分析的软件。相关技术中，使用DM软件自带的校正功能（tune GIF）对磁透镜进行调试，从而校正磁透镜参数。然而，使用DM中自带的tune GIF功能只能按照固定流程对磁透镜参数进行调试，容易导致调试后的磁透镜参数不准确。因此，如何提高磁透镜参数调试的准确性，成为本领域技术人员亟需解决的技术问题。

发明内容

基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种能够提高磁透镜参数调试的准确性的磁透镜调试方法和装置、计算机设备、存储介质。

第一方面，本申请提供了一种基于Digital Micrograph的磁透镜调试方法。所述方法包括：

获取Digital Micrograph软件的调试选项集中被选取的多个待调试选项；所述调试选项集中的调试选项具有对应的顺序；

在所述多个待调试选项中选择顺序满足第一预设条件的待调试选项，得到目标调试选项；

根据所述目标调试选项对磁透镜进行调试，得到目标调试值；

判断所述目标调试选项对应的调试初始值或目标调试值是否满足第二预设条件；其中，所述第二预设条件为所述调试初始值小于等于第一预设值，或者所述目标调试值小于等于所述调试初始值，或者所述目标调试值小于等于第二预设值；

若否，返回执行所述根据所述目标调试选项对磁透镜进行调试，直至得到满足所述第二预设条件的目标调试值；

若是，将所述目标调试选项置为已调试状态，并从所述多个待调试选项中剔除，返回执行所述在所述多个待调试选项中选择顺序满足第一预设条件的待调试选项的步骤，直到各所述待调试选项处于所述已调试状态。

在其中一个实施例中，所述方法还包括：

在对所述磁透镜进行调试的过程中，当所述Digital Micrograph软件的显示界面上显示用于表征询问调试是否继续的提示对话框时，调用自动点击脚本在所述提示对话框中的预设区域进行触发操作；

响应于所述触发操作，关闭所述提示对话框，以继续执行所述根据所述目标调试选项对磁透镜进行调试，得到目标调试值的步骤。

在其中一个实施例中，所述根据所述目标调试选项对磁透镜进行调试，得到目标调试值，包括：

根据所述目标调试选项对所述磁透镜进行调试，得到调试结果，并将所述调试结果写入到调试文档；

在所述调试文档中，当查找到用于表示调试开始的第一关键词时，获取指针在所述调试文档中的指针位置；

在所述调试文档中，从所述指针位置开始查询得到所述目标调试值。