[发明专利]磁透镜调试方法和装置、计算机设备、存储介质

权利要求书

1.一种基于Digital Micrograph的磁透镜调试方法，其特征在于，所述方法包括：

获取Digital Micrograph软件的调试选项集中被选取的多个待调试选项；所述调试选项集中的调试选项具有对应的顺序；

在所述多个待调试选项中选择顺序满足第一预设条件的待调试选项，得到目标调试选项；

根据所述目标调试选项对磁透镜进行调试，得到目标调试值；

判断所述目标调试选项对应的调试初始值或所述目标调试值是否满足第二预设条件；其中，所述第二预设条件为所述调试初始值小于等于第一预设值，或者所述目标调试值小于等于所述调试初始值，或者所述目标调试值小于等于第二预设值；

若否，返回执行所述根据所述目标调试选项对磁透镜进行调试，直至得到满足所述第二预设条件的目标调试值；

若是，将所述目标调试选项置为已调试状态，并从所述多个待调试选项中剔除，返回执行所述在所述多个待调试选项中选择顺序满足第一预设条件的待调试选项的步骤，直到各所述待调试选项处于所述已调试状态。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

在对所述磁透镜进行调试的过程中，当所述Digital Micrograph软件的显示界面上显示用于表征询问调试是否继续的提示对话框时，调用自动点击脚本在所述提示对话框中的预设区域进行触发操作；

响应于所述触发操作，关闭所述提示对话框，以继续执行所述根据所述目标调试选项对磁透镜进行调试，得到目标调试值的步骤。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述目标调试选项对磁透镜进行调试，得到目标调试值，包括：

根据所述目标调试选项对所述磁透镜进行调试，得到调试结果，并将所述调试结果写入到调试文档；

在所述调试文档中，当查找到用于表示调试开始的第一关键词时，获取指针在所述调试文档中的指针位置；

在所述调试文档中，从所述指针位置开始查询得到所述目标调试值。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述从所述指针位置开始查询得到所述目标调试值，包括：

根据第二关键词从所述指针位置开始查找用于表示所述目标调试值所在的第一目标区域；

在所述第一目标区域中提取得到所述目标调试值。

5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

在所述调试文档中，根据第三关键词从所述指针位置开始查找用于表示所述调试初始值所在的第二目标区域；

在所述第二目标区域中提取得到所述调试初始值。

6.根据权利要求1至5任一项所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

当所述目标调试选项为所述已调试状态时，在所述Digital Micrograph软件的显示界面上显示用于表示所述目标调试选项已调试的第一提示信息；

当各所述待调试选项处于所述已调试状态时，在所述Digital Micrograph软件的显示界面上显示用于表示各所述待调试选项已调试的第二提示信息。

7.根据权利要求1至5任一项所述的方法，其特征在于，所述方法包括：

获取各所述待调试选项对应的满足所述第二预设条件的目标调试值；

将获取的各所述目标调试值显示于所述Digital Micrograph软件的显示界面。