[发明专利]辐射测温探头结构在审
| 申请号： | 202211314719.3 | 申请日： | 2022-10-25 |
| 公开（公告）号： | CN115638880A | 公开（公告）日： | 2023-01-24 |
| 发明（设计）人： | 李勋锋;叶志鹏;许闽;淮秀兰;刘斌 | 申请（专利权）人： | 中国科学院工程热物理研究所 |
| 主分类号： | G01J5/00 | 分类号： | G01J5/00;G01J5/02;G01J5/05;G01J5/0806;G01J5/0875 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 王文思 |
| 地址： | 100190 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本公开提供一种辐射测温探头结构，涉及非接触温度测量技术领域，包括：机匣，内部形成有测试孔；安装座，安装在机匣上；探头座，安装在安装座上，并与安装座密封；探头座上设有进气口，用于向探头座内部通入高压洁净低温气体；探头外壳，插入探头座内部并穿过机匣的滑道，能够相对于机匣和探头座滑动；探头外壳为封闭结构，在周向设置有进气孔；滑动密封件，用于在探头外壳轴向伸缩时与探头座之间形成密封；探头光路内管，安装于探头外壳内部，并通过第一密封圈进行密封；探头光路内管远离探头座的一端安装有反射镜，反射镜能够相对探头光路内管的轴向转动，以形成不同的反射角。 | ||
| 搜索关键词： | 辐射 测温 探头 结构 | ||
【主权项】：
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