[发明专利]一种薄膜表面缺陷检测系统及方法在审
| 申请号： | 202211279467.5 | 申请日： | 2022-10-19 |
| 公开（公告）号： | CN115629079A | 公开（公告）日： | 2023-01-20 |
| 发明（设计）人： | 彭灿 | 申请（专利权）人： | 湖南迪普视智能科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/88 | 分类号： | G01N21/88;G01N21/84 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 乔图 |
| 地址： | 410600 湖南省长沙市长沙经济技术*** | 国省代码： | 湖南;43 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种薄膜表面缺陷检测系统，属于钙钛矿电池领域，该系统包括：检测子系统和数据处理服务器；所述检测子系统，包括工业相机组、线光源组和信号处理平台。本申请通过采用多个频率的光源与多个工业相机同频同步工作，统一由信号处理平台给出同步控制信号，最终得到多通道的薄膜表面图像，有利于缺陷的检出及缺陷具体的分类，具有多维度、在线实时、快速、高效、高性价比等优点，解决了目前钙钛矿薄膜质量评估采用微观实验仪器设备无法满足批量化生产需求的问题，同时能够实现对缺陷的分类。本申请还提供一种薄膜表面缺陷检测方法，具有上述有益效果。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 薄膜 表面 缺陷 检测 系统 方法 | ||
【主权项】：
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