[发明专利]一种密码芯片、电磁注入检测电路及电磁注入检测方法在审

专利信息
申请号: 202211274802.2 申请日: 2022-10-18
公开(公告)号: CN115495800A 公开(公告)日: 2022-12-20
发明(设计)人: 肖勇;崔超;赵云;林伟斌;王浩林;蔡梓文 申请(专利权)人: 南方电网科学研究院有限责任公司
主分类号: G06F21/72 分类号: G06F21/72;G06F1/06
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 郑华丽
地址: 510663 广东省广州市萝岗区科*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 本申请公开了一种密码芯片、电磁注入检测电路及电磁注入检测方法,电磁注入检测电路装配于密码芯片上,且电磁注入检测电路包括:信号生成模块、异或门、延时链模块和判定模组;信号生成模块,用于生成预置类型的周期信号;异或门用于基于防护走线和直连线路信号中的周期信号,生成脉冲信号;延时链模块的第一输入端连接异或门的输出端,第二输入端连接有时钟信号,用于当时钟信号发生变化时,锁存延时链模块中传输的脉冲信号的输出值;判定模组,用于基于输出值,得到密码芯片是否发生电磁注入的检测结果。解决了现有密码芯片的电磁注入检测方法,不能及时发现电磁注入,检测准确率较低的技术问题。
搜索关键词: 一种 密码 芯片 电磁 注入 检测 电路 方法
【主权项】:
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